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X射线衍射仪及元素分析
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X射线衍射 (XRD) 及散射 布鲁克的X射线衍射仪和散射仪是材料表征的有力工具。不论是基础研究还是工业质量控制，我们都能为客户提供合适的解决方案。 1、物相定性分析 2、物相定量相分析 3、结构解析 4、双体分布函数（PDF）分析 5、小角散射 6、x射线反射率 7、高分辨x射线衍射 8、倒易空间强度分布图（RSM） 9、残余应力 10、织构分析 了解布鲁克公司如何提供按需测量的解决方案，确保从研发到 QA/QC 的整个生产过程中组件的佳 汽车和航空航天组件都必须在条件和持续的压力下可靠工作，为确保始终如一的质量、可重复性和耐用性，高精密的测量技术。*的测量技术有助于预测和防止故障。 布鲁克公司能提供 3D 显微镜，从而帮助您提高制造精度，缩短量产时间，提高产品质量并提升生产效率。数据存储速度越快，就越能更好理解零件性能及其功能。无论是在生产车间进行测量，还是在 QA/QC 实验室进行测量，布鲁克公司都能够提供按需测量的解决方案，确保制造工程的卓有成效，提高产品的可靠性。 D8X射线衍射仪技术参数： l 输出功率：≥2.2 kW； l 电流电压输出稳定性优于0.005% (外电压波动10%)时； l X射线防护：国际安全认证，射线剂量≤0.2μSv/h。 l 光管类型：陶瓷X光管，Cu靶，其他靶材可选更换无需校准； l 光管功率：2.2 kW； l 长细焦斑：0.4×12mm； l 管压：60kV； l 管流：80mA； l 测角仪：采用步进马达驱动和光学编码器技术，扫描方式θ/θ或θ/2θ测角仪；最小步进角度0.0001 o；角度重现性0.0001 o；扫描角度范围2θ＝-110 o ～168 o；定位速度 ≥1500o/min。索拉(Soller)狭缝：0.02, 0.04, 0.08 rad。 l 探测器：闪烁晶体计数器；动态范围≥2×106 cps；背底噪声＜ 0.5 cps。固体探测器：锂漂移硅能量色散型；测量范围2keV ～ 30keV；能量分辨率： E ≥279 eV。
材料特性无损表征手段汽车和航空航天
