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ML1080 多通道LED寿命测试系统
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LED寿命测试系统
针对LED进行寿命测试,设备硬件依据LM-80标准测试方法开发设计,符合LM-80测试要求。该系统可精确设定高低温环境,使LED暴露在高温环境下,同时又精确控制LED结温,使LED在高温条件下老化,加速其光度衰减。并可根据不同时间节点的测试数据,推算出LED的寿命。系统设计极为人性化,LED老化设备方便与积分球系统对接测量,有效的提高测量效率。
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