无需经验即可进行各种粉末X射线衍射测量

X射线分析综合软件具有强大的用户引导功能，支持从测量到分析。该软件基于理学的分析知识，提出光学系统并自动调整光学系统并设置测量条件。可以进行范围广泛的粉末 X 射线衍射测量，包括粉末轮廓测量和微小/原位测量。

在几分钟内测量广角粉末 X 射线衍射图

配备高分辨率、高速一维X射线探测器。可以在抑制背景水平的情况下进行测量，并且集成的强度效应使得检测痕量成分变得容易。

二维 X 射线衍射测量的扩展世界

配备HyPix-400混合型多维像素探测器的型号支持显微和原位测量。此外，可以轻松获得有关样品状态的信息，例如晶粒尺寸和取向。直到现在才注意到的东西极大地扩展了可以从粉末 X 射线衍射测量中获得的知识范围。

支持任何测量场景

光学系统选择单元和光学系统/试样位置自动调整程序可实现轻松快速的光学系统切换。可根据分析目的和样品形状选择光学系统和附件。

实现各种应用

各种光学系统配置可用于实现各种应用，例如反射法/透射法测量、使用多毛细管的微区测量、小角度X射线散射测量、残余应力/极图测量等。自动实现这些光学系统调整。

实现具有统一操作性的流畅分析环境

从分析所需的光学系统管理和测量等设备控制到数据分析，都可以在一个软件上完成。光学传感、引导功能和流程栏导航等功能大大提高了用户友好性。

丰富的附件和样品架

可提供自动6样品交换器、10样品自动交换器、毛细管旋转样品台、αβ附件、电池单元附件、各种温度控制附件、通用大气分离器、非反射样品架、透射法样品架等。 .