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环境温湿度控制下的OLED器件寿命测试
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弗士达科学仪器成立于2006年，总部坐落于苏州工业园区，设有深圳分公司和重庆办事处，是一家专业提供显示屏光学检测系统解决方案的。公司开发的自动光学检测系统可应用于LCD、TV、Moniter、LCM、OLED器件、OLED材料、OLED模组屏、Micro LED、Mini LED、OLED微显、增亮膜、扩散片、导光板、车载仪表盘、LED Light Bar 、背光模组等行业。公司现已申请了多项，针对各类行业标准已研发出多套应用软件，可根据客户具体的光学测量项目及要求，提供完整的软硬件系统解决方案。经过多年的努力和探索，弗士达公司已与行业内的生产厂商及广大用户建立了紧密的合作关系，公司下属的业务咨询部、机构开发部、软件开发部、生产制造部、技术服务部可为客户提供一体化的服务，弗士达是专业的光学特性检测系统的生产厂家。
详细信息
系统概述
根据用户不同温湿度环境测试需求，可增加高温箱、高低温箱、恒温恒湿箱等，对器件的寿命测试环境进行控制。
其温度控制范围、湿度控制范围和多层腔式均可根据客户的需求订制。
系统特点
避免高温对硅光电测试影响的设计方案
硅光电二极管工作温度范围-20-70℃，并且随着温度的改变，硅光电二极管光电流转换效率，以及暗态电流都会改变，直接造成相对 亮度测量不准确。即使是耐高低温环境的硅光电二极管，但在长期的高低温环境下工作，也会极大缩短其使用寿命。 为避免硅光电二极管的温度影响因素，同时保证使用寿命，将硅光电放置在室温环境的测试机柜内部，通过光纤把高温老化试验箱内 的器件发光传导过来，进行测量。
标准恒温恒湿箱参数
温度范围： -40～100 ℃ （标准型，其它温度范围可订制）
温度均匀度：±2.0℃
温度波动度： ± 0.5℃
温度精度：1 ℃
升温速度： 1.0～3.0℃/min
降温速率： 0.7～1.2℃/min
湿度范围：30%～98%RH （标准型，其它湿度范围可订制）
湿度波动度：±1.5％R.H
湿度偏差：±2.5％R.H
软件功能
（1） 测量模式：恒压、恒流、恒亮模式
（2） 测量数据：测量时间、样品信息、电流、电压、光感电压、预估寿命、亮度衰减比、温度
（3） 测量图表：衰减比实时电流/电压/衰减曲线
（4） 测量时间：三个时间段设计，每个时间段可以分别设置测量时间间隔等参数
（5） 发光点测量的独立性：每个发光点可以独立设置电压或电流等参数，共有96组电压和96组电流输出,以及96组电流和电压的独立测量
（6） 光学寿命测量时,每个发光点可以独立开始和停止测量,每个发光点均可设置独立的三段测试时间和间隔.支持用户在测试过程中,增加或 更换其中几片产品
（7） 图表实时查询：支持图表在测量过程中实时查询，不必等待测量结束后再看数据和图表
（8） 曲线图：支持选择电压、电流、亮度衰减、寿命时长等数据，在图表里显示曲线。
（9） 测量前预处理功能：可以设定的需要预处理的温度值、电流、电压值和时间等参数，正常测量前先以预处理条件进行老化，然后再进 入正常寿命测试程序。
（10） 数据实时存储，异常恢复后可找回数据并继续测试（中断的时间不累积，能自动减除）
（11） Datalog及Eventlog实时记录
软件界面
根据用户不同温湿度环境测试需求，可增加高温箱、高低温箱、恒温恒湿箱等，对器件的寿命测试环境进行控制。
其温度控制范围、湿度控制范围和多层腔式均可根据客户的需求订制。
系统特点
避免高温对硅光电测试影响的设计方案
硅光电二极管工作温度范围-20-70℃，并且随着温度的改变，硅光电二极管光电流转换效率，以及暗态电流都会改变，直接造成相对 亮度测量不准确。即使是耐高低温环境的硅光电二极管，但在长期的高低温环境下工作，也会极大缩短其使用寿命。 为避免硅光电二极管的温度影响因素，同时保证使用寿命，将硅光电放置在室温环境的测试机柜内部，通过光纤把高温老化试验箱内 的器件发光传导过来，进行测量。
标准恒温恒湿箱参数
温度范围： -40～100 ℃ （标准型，其它温度范围可订制）
温度均匀度：±2.0℃
温度波动度： ± 0.5℃
温度精度：1 ℃
升温速度： 1.0～3.0℃/min
降温速率： 0.7～1.2℃/min
湿度范围：30%～98%RH （标准型，其它湿度范围可订制）
湿度波动度：±1.5％R.H
湿度偏差：±2.5％R.H
软件功能
（1） 测量模式：恒压、恒流、恒亮模式
（2） 测量数据：测量时间、样品信息、电流、电压、光感电压、预估寿命、亮度衰减比、温度
（3） 测量图表：衰减比实时电流/电压/衰减曲线
（4） 测量时间：三个时间段设计，每个时间段可以分别设置测量时间间隔等参数
（5） 发光点测量的独立性：每个发光点可以独立设置电压或电流等参数，共有96组电压和96组电流输出,以及96组电流和电压的独立测量
（6） 光学寿命测量时,每个发光点可以独立开始和停止测量,每个发光点均可设置独立的三段测试时间和间隔.支持用户在测试过程中,增加或 更换其中几片产品
（7） 图表实时查询：支持图表在测量过程中实时查询，不必等待测量结束后再看数据和图表
（8） 曲线图：支持选择电压、电流、亮度衰减、寿命时长等数据，在图表里显示曲线。
（9） 测量前预处理功能：可以设定的需要预处理的温度值、电流、电压值和时间等参数，正常测量前先以预处理条件进行老化，然后再进 入正常寿命测试程序。
（10） 数据实时存储，异常恢复后可找回数据并继续测试（中断的时间不累积，能自动减除）
（11） Datalog及Eventlog实时记录
软件界面
