MULTIC宽带多光谱成像仪测试系统

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MULTIC宽带多光谱成像仪测试系统

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北京费恩科技有限公司位于北京经济技术开发区,是一家从事专业光电精密测量测试设备的代理商。产品源于美国、波兰、意大利等,涵盖了精密测量设备、成像系统测试设备及模块、诊断工具等,可提供高精度的测厚设备、紫外到远红外整个波段的成像测试系统、红外测量系统和探测器、夏克-哈特曼波前传感器等。我们的用户覆盖了各高校、科研院所、航空航天、各类光电企业等不同领域。费恩科技拥有专业的技术团队,不仅为用户提供各类标准产品,还可根据用户的具体需求,提供完整的系统解决方案。同时,我们还拥有优秀的售后技术支持团队,可及时为用户提供售后服务,包括安装、调试、培训、技术指导等工作。费恩科技秉承“一、客户至上、服务为先”的经营理念,带领专业技术团队,为广大用户提供各类光电检测设备及解决方案,用心开拓国内市场,为光电检测行业带来的技术和服务。

详细信息

MULTIC宽带多光谱成像仪测试系统是为测试远距离宽带多光谱成像仪而开发的专业测试系统。它可看作是经过校正的投影系统,可在可见光至远红外波段投射出不同形状/大小/光强的标准图像。

MULTIC测试系统由以下模块组成:CDT离轴反射平行光管(典型有效径为400mm或500mm),VASIP14D宽带多光谱光源 ,TCB4D黑体,一套两个MRW-6L旋转靶轮,WEB模块切换转轮,一组靶标,计算机,一组图像采集卡,控制软件,测试软件,一组平台,BOREX平台。

MULTIC是专业的测试系统,用于测试远程宽带多光谱成像系统。它是校准的图像投影仪,能够在从可见光到远红外范围的不同光谱投影不同形状/尺寸/光强度的参考图像。 MULTIC被构建为具有固定,紧凑结构的离轴牛顿型平行光管,其具有位于平行光管焦平面处的一组可交换标准靶标,主要由单个宽带多光谱辐射源照射,这种编码为VASIP的特殊辐射源是该测试系统的核心,额外的TCB黑体用于热像仪测试。这种新设计可实现广泛的测试功能,同时保持超高系统精度和可靠性。

产品参数

根据所选配置MULTIC能够对光学孔径不超过400/500mm的大型宽带多光谱成像仪进行测试。详细测试功能如下表所示。

 

表1. VASIP光源作为辐射源时的测试功能

热像仪

可见光-近红外相机

短波红外相机

可见光-近红外高光谱仪

FOV

畸变

MTF

FOV

畸变

MTF

NEI (噪声等效照度),

空间噪声 (FPN, 非均匀性)

MRC (最小可分辨对比度)

响应函数 (线性度,动态范围)

相对光谱灵敏度

颜色精确度 (选配)

FOV

畸变

MTF

NER (噪声等效反射率)

空间噪声 (FPN, 非均匀性)

MRC (最小可分辨对比度)

响应函数 (线性度,动态范围)

相对光谱灵敏度(步进测量)

D* 比探测率

FOV

桶形畸变

枕形畸变

MTF

NER (噪声等效反射率)

空间噪声 (FPN, 非均匀性)

响应函数 (线性度,动态范围)

MRC (最小可分辨对比度)

D* 比探测率

校轴误差:

1.           高光谱仪在不同谱段时的光轴偏差

2.           高光谱仪光轴相对于热像仪(或VIS NIR相机/SWIR相机)的光轴偏差的测量

3.           测量高光谱仪图像相对于热像仪图像和VIS NIR /SWIR相机图像之间的旋转角

4.           同一成像仪/相机不同视场时光轴偏差的测量

5.           可见光-近红外相机(或短波红外相机,高光谱仪,热像仪)到BOREX平台的参考机械平面(机械轴)的光轴偏差的测量

表 2. TCB-4D黑体作为辐射源时的测试功能

热像仪

VIS-NIR   可见光-近红外相机

VIS-SWIR   高光谱仪

MTF

噪声等效温差NETD

最小可分辨温差MRTD

最小可探测温差MDTD

空间噪声 (固定图形噪声FPN,非均匀性)

比探测率D*(可选配)

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