日立200kV球差校正透射电镜  电子显微镜

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HF5000 日立200kV球差校正透射电镜 电子显微镜

型号
HF5000
参数
产地:进口 仪器种类:场发射
上海斯迈欧分析仪器有限公司

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气相色谱、液相色谱、气质联用仪、液质联用仪、原子吸收光谱仪、紫外分光光度计

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详细信息

日立200kV球差校正HF5000透射电镜特点:
标配日立生产的照射系统球差校正器(附自动校正功能)
搭载具有高辉度、高稳定性的冷场FE电子枪
镜体和电源等的高稳定性使机体的性能大幅度提升
观察像差校正SEM/STEM图像的同时观察原子分辨率SE图像
采用侧面放入样品的新型样品台结构以及样品杆
支持高立体角EDX*的对称配置(对称Dual SDD*)
采用全新构造的机体外壳盖
配备日立生产的高性能样品杆*


像差校正SEM图像/STEM图像 同时观察
配有标配二次电子检测器,可同时观察像差校正SEM/STEM图像。通过同时观察样品的表面和内部结构,可以掌握样品的三维构造。
在像差校正SEM图像中,除了可以通过校正球差来提高分辨率之外,还可以获取更真实地样品表面图像。

高辉度冷场FE电子枪×高稳定性×日立制球面像差校正器
以长年积累起来的高辉度冷场FE电子源技术为基础,进行优化,进一步实现电子枪的高度稳定性。
此外,还更新了镜体,电源系统和样品台,以支持观察亚Å图像,并提升了机械和电气稳定性,然后与日立公司的球差校正器结合使用。
不仅可以稳定地获得更高亮度更精密的探头,而且自动像差校正功能可以实现快速校正,从而易于发挥设备的固有性能。使像差校正可以更实用。

支持高立体角EDX*的对称Dual SDD*
支持双重配置100 mm2 SDD检测器,以实现更高的灵敏度和处理能力进行EDX元素分析。
由于第二检测器位于检测器的对面位置,因此,几乎不会因为样品倾斜,导致X射线中的信号检测量发生变化。所以,即使是结晶性样品,也不用顾忌信号量,可按照样品的方向与位置进行元素分析。
此外,对于电子束敏感样品、低X光辐射量的样品,除了原子列映射,在低倍、广视野的高精细映射等领域也极为有效。

日立200kV球差校正HF5000透射电镜像差校正SEM图像/STEM图像 同时观察
配有标配二次电子检测器,可同时观察像差校正SEM/STEM图像。通过同时观察样品的表面和内部结构,可以掌握样品的三维构造。
在像差校正SEM图像中,除了可以通过校正球差来提高分辨率之外,还可以获取更真实地样品表面图像。




 

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产地 进口
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