粗糙度轮廓仪 SRA-2

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粗糙度轮廓仪 SRA-2

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我厂全资直营分公司网点据业务需要,更好服务客户,成立北京上光仪器有限公司、天津上光、武汉上光、广州上光、西安上光等直营办事处。客户可就近选择,服务办事处 ;响应号召,原“上海光学仪器厂”国企优化重组改制后成立 上海光学仪器一厂;原厂骨干技术工人质量把控,拥有多项专研技术;集设计、开发、制造、销售于一体的综合型企业,提供成套光学影像系统解决方案!创办于1953的上海光学仪器厂,多年来的不断钻研和上光人的艰苦奋斗,研制出了一系列的经典光学产品,促进了光学工业的发展,为光学行业的长远发展奠定了坚实的基础, 先后与德国蔡司-欧波同(ZEISS-OPTON)、徕卡(LEICA)等国际光学公司合作生产各类精密光学仪器。产品广泛用于农业、工业、电子、冶金、医疗、化工、航空、天文等各行业和科研、教育、国防等部门。 生产设备分类有七大类共八十多个品种: 显微镜、计量仪器、物理仪器、分析仪器、医用仪器及教学、实验仪器研发合作机构:上海光学仪器研究所 国家光学仪器质量监督检验中心 上海光学仪器一厂企业文化以“开拓、创新、求实、诚信”为精神,以“深耕光学,惟真致远” 为宗旨致力于光学电产业的发展,以回馈社会及新老客户对企业产品的厚爱 。

详细信息

粗糙度轮廓仪 SRA-2详细介绍

产品特点

1)粗糙度测量

*可对平面、斜面、圆柱面、内孔表面、圆弧面、球面等进行高精度的粗糙度分析

*适用多种粗糙度标准(GB/T3505-2000GB/T6062-2001,GB/T10610-1998等)

*配备X-Y  360°旋转工作台,显著提高可操作性。 

*自动校正功能。

*宽范围、高分辨率的检测器和一个直接驱动元件,提供了在同类产品中更优越的高精度测量。

*配备易于操作的控制箱,可进行开始/停止测量、返回等操作。驱动部的上/下位置和X轴的移动等微调操作。

*仪器带有电脑及专用测量软件,操作更加直观方便,精度高,稳定性高,并方便报告打印输出和数据保存。

 2)轮廓测量

*对距离、角度、半径、周期等尺寸公差进行测量,对三坐标、画像仪、投影仪等测不到的孔洞及微小尺寸进行测量。

* 可记录图形。

*测量速度快。减少被测物滞留时间及人员时间的占用。

*人为误差减少,任何人都可以测量。

*可以连接到电脑,通过软件进行测量与分析

仪器参数:

一、粗糙度测量

X (驱动部)

1.测量范围: 100mm

2.分辨率: 0.5μm

3.长度基准: 高精度位移传感器

4.驱动速度: 0 – 10mm/s

5.测量速度: 0.5 - 2mm/s

Z (立柱)

1.类型: 电动操作

2.垂直移动: 350mm

检测器

1.范围/分辨率: 1000μm / 0.01μm

2.测针针尖: 2um

3.示值误差: ±5%-—±7%

4.测量重复性: ± 3% --±5%
5.
类型: 差动电感式

6.驱动装置的控制:手动或 PC 操作

评价参数

1.Ra, Rq, Rz, Ry, Rz(JIS), Ry(DIN), Rc, Rp, Rpmax, Rpi, Rv, Rvmax, Rvi,

Rt, Rti, R3z, R3zi, R3y, S, Pc (Ppi), Sm, HSC, mr, dc, plateau ratio,

mrd, Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, Da, Dq, la, lq, Sk, Ku, Lo, Lr, A1, A2

取样长度

1.0.08mm, 0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm

数据补偿功能

倾斜补偿,R 平面(曲面) 补偿,椭圆补偿,抛物线补偿,

双曲线补偿,二次曲线自动补偿,多项式补偿,多项

式自动补偿

二、轮廓测量

1.测量范围:100mm

2.分辨率: 0.1μm

3.测量速度: 0.2, 0.51mm/s

4.测量方向: 向后

5.指示精度: ±(3.5+2L/100)μm

* L = 测量长度 (mm)

6.测针上/下运作: 弧形运动

7.测针方向: 向下

8.测力: 10 - 30mN

9.测针针尖半径: 25μm, 硬质合金针尖

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