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试验服务 AEC-Q100认证试验第三方检测机构
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广电计量检测集团股份有限公司（简称：广电计量）始建于1964年，于2019年11月8日登陆中小企业板， 于2019年上市，是广州无线电集团旗下的第三家A股上市公司。
广电计量是原电子602计量站，经过50余年的发展，现已成为一家全国化、综合性的国有第三方计量检测机构，专注于为客户提供计量、检测、认证以及技术咨询与培训等专业技术服务，在计量校准、可靠性与环境试验、电磁兼容检测等多个领域的技术能力及业务规模处于先进水平。
广电计量的技术能力获得了众多国内外机构和组织的认可，通过了中国合格评定国家认可委员会认可（CNAS），获得检验检测机构资质认定（CMA）、农产品质量安全检测机构（CATL）以及众多政府和行业机构的认可资质，是“三品一标”检测实验室、全国土壤污染详查推荐检测实验室、中国CB实验室，出具的证书、报告具有公信力，可帮助客户稳健开拓市场。
广电计量构建了覆盖全国的服务保障网络，在国内建有23个计量检测基地和50多家分子公司，实验室总面积超过16万平方米，配置国内外设备仪器30000多台/套，搭建的全国一体化计量检测与认证技术公共服务平台，可迅速响应客户需求，为客户提供近距离、本地化的专业服务。
广电计量打造了一支技术水平和服务意识俱佳的服务队伍，现有员工4000多人，其中包括各领域专家和技术带头人50多人，博士后、博士33人，硕士近400人。
广电计量建有技术研究院，在新能源汽车、轨道交通、无线通信等领域，先后主持编写30多项计量测试标准及规程，承担50多项国家、省部级等重点科研项目，获得软件著作权141项，积极推动了行业新技术的创新和产业化应用。
作为一家拥有高度社会责任感的国有企业，广电计量以助推各区域经济高质量发展、助力企业品质提升为己任。目前，广电计量的服务能力覆盖汽车、航空、轨道交通、船舶、通信、电力、电子电器、食品、环保、农业、医疗、石化等领域，凭借专业的计量检测技术之力，广电计量可帮助各行业产业链上下游客户提升自身竞争力，实现产品全寿命周期的质量管控。
在品质决胜未来的发展新时代，广电计量将继续秉持科学、公正、准确、快捷、周到的服务理念，为高质量发展传递信任，为建设“和谐美丽”中国保驾护航！
详细信息
AEC-Q100认证试验第三方检测机构服务背景
IC作为重要的车载元器件部件，是AEC委员会持续关注的重点领域。AEC-Q100对IC的可靠性测试可细分为加速环境应力可靠性、加速寿命模拟可靠性、封装可靠性、晶圆制程可靠性、电学参数验证、缺陷筛查、包装完整性试验，且需要根据器件所能承受的温度等级选择测试条件。需要注意的是，第三方难以独立完成AEC-Q100的验证，需要晶圆供应商、封测厂配合完成，这更加考验对认证试验的整体把控能力。广电计量将根据客户的要求，依据标准对客户的IC进行评估，出具合理的认证方案，从而助力IC的可靠性认证。
广电计量失效分析实验室AEC-Q技术团队，执行过大量的AEC-Q测试案例，积累了丰富的认证试验经验，可为您提供更专业、更可靠的AEC-Q认证试验服务。
AEC-Q100认证试验第三方检测机构产品范围
集成电路(IC)
测试周期
3-4个月，提供全面的认证计划、测试等服务
测试项目
序号 | 测试项目 | 缩写 | 样品数/批 | 批数 | 测试方法 |
A组 加速环境应力试验 | |||||
A1 | Preconditioning | PC | 77 | 3 | J-STD-020、 |
JESD22-A113 | |||||
A2 | Temperature-Humidity-Bias | THB | 77 | 3 | JESD22-A101 |
Biased HAST | HAST | JESD22-A110 | |||
A3 | Autoclave | AC | 77 | 3 | JESD22-A102 |
Unbiased HAST | UHST | JESD22-A118 | |||
Temperature-Humidity (without Bias) | TH | JESD22-A101 | |||
A4 | Temperature Cycling | TC | 77 | 3 | JESD22-A104、Appendix 3 |
A5 | Power Temperature Cycling | PTC | 45 | 1 | JESD22-A105 |
A6 | High Temperature Storage Life | HSTL | 45 | 1 | JESD22-A103 |
B组 加速寿命模拟试验 | |||||
B1 | High Temperature Operating Life | HTOL | 77 | 3 | JESD22-A108 |
B2 | Early Life Failure Rate | ELFR | 800 | 3 | AEC-Q100-008 |
B3 | NVM Endurance, Data Retention, and Operational Life | EDR | 77 | 3 | AEC-Q100-005 |
C组 封装完整性测试 | |||||
C1 | Wire Bond Shear | WBS | 最少5个器件中的30根键合线 | AEC-Q100-001、AEC-Q003 | |
C2 | Wire Bond Pull | WBP | MIL-STD883 method 2011、 | ||
AEC-Q003 | |||||
C3 | Solderability | SD | 15 | 1 | JESD22-B102或 J-STD-002D |
C4 | Physical Dimensions | PD | 10 | 3 | JESD22-B100、 JESD22-B108 |
AEC-Q003 | |||||
C5 | Solder Ball Shear | SBS | 至少10个器件的5个键合球 | 3 | AEC-Q100-010、 |
AEC-Q003 | |||||
C6 | Lead Integrity | LI | 至少5个器件的10根引线 | 1 | JESD22-B105 |
D组 晶圆制造可靠性测试 | |||||
D1 | Electromigration | EM | / | / | / |
D2 | Time Dependent Dielectric Breakdown | TDDB | / | / | / |
D3 | Hot Carrier Injection | HCI | / | / | / |
D4 | Negative Bias Temperature Instability | NBTI | / | / | / |
D5 | Stress Migration | SM | / | / | / |
E组 电学验证测试 | |||||
E1 | Pre- and Post-Stress Function/Parameter | TEST | 所有要求做电学测试的应力试验的全部样品 | 供应商或用户规格 | |
E2 | Electrostatic Discharge Human Body Model | HBM | 参考测试规范 | 1 | AEC-Q100-002 |
E3 | Electrostatic Discharge Charged Device Model | CDM | 参考测试规范 | 1 | AEC-Q100-011 |
E4 | Latch-Up | LU | 6 | 1 | AEC-Q100-004 |
E5 | Electrical Distributions | ED | 30 | 3 | AEC Q100-009 |
AEC Q003 | |||||
E6 | Fault Grading | FG | - | - | AEC-Q100-007 |
E7 | Characterization | CHAR | - | - | AEC-Q003 |
E9 | Electromagnetic Compatibility | EMC | 1 | 1 | SAE J1752/3-辐射 |
E10 | Short Circuit Characterization | SC | 10 | 3 | AEC-Q100-012 |
E11 | Soft Error Rate | SER | 3 | 1 | JEDEC |
无加速：JESD89-1 | |||||
加速：JESD89-2或JESD89-3 | |||||
E12 | Lead (Pb) Free | LF | 参考测试规范 | 参考测试规范 | AEC-Q005 |
F组 缺陷筛选测试 | |||||
F1 | Process Average Testing | PAT | / | / | AEC-Q001 |
F2 | Statistical Bin/Yield Analysis | SBA | / | / | AEC-Q002 |
G组 密封封装完整性测试 | |||||
G1 | Mechanical Shock | MS | 15 | 1 | JESD22-B104 |
G2 | Variable Frequency Vibration | VFV | 15 | 1 | JESD22-B103 |
G3 | Constant Acceleration | CA | 15 | 1 | MIL-STD883 Method 2001 |
G4 | Gross/Fine Leak | GFL | 15 | 1 | MIL-STD883 Method 1014 |
G5 | Package Drop | DROP | 5 | 1 | / |
G6 | Lid Torque | LT | 5 | 1 | MIL-STD883 Method 2024 |
G7 | Die Shear | DS | 5 | 1 | MIL-STD883 Method 2019 |
G8 | Internal Water Vapor | IWV | 5 | 1 | MIL-STD883 Method 1018 |
