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Perthometer M2 Perthometer M2便携式粗糙度测量仪
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Perthometer M2便携式粗糙度测量仪
概述
此仪器的作是基于久经验证的强大功能,使得仪器的设置如测量条件,系统语言和测量报告能方便的配置。MarSurf M2让您得到更到的测量功能和高效的测量灵活性。
与Perthometer M1对比,此设备不仅能满足测量的需要和测量参数的存档要求,还能使大多数的测量参数和特性曲线根据DIN/ISO/JIS标准的要求哦进行轮廓评定。
更多的,MarSurf M2 提供了内置的存储器,可用于存储高达200组测量结果和实现公差监测,垂直显示比例的调整,用于计算粗糙度峰顶数使用的不对称截止线设置。
Perthometer M2便携式粗糙度测量仪特点
·测量范围高达150μm
·测量单位μm/μin 可选
·评定标准:DIN/ISO/JIS 和CNOMO (Motif) 可选
·依照DINENISO4288/ASMEB461标准的测量长度选择:1.75 mm;5.6 mm;17.5 mm;依照ENISO12085标准:1mm;2mm;4mm;8mm;12mm;16mm
·截止波长可从 1 至5自由选择
·依照标准的测量波长及测量长度自动选择
·依照DINENISO11562标准的相位修正轮廓滤波器
·可选择截止波长有0,25 mm/0,8 mm/2,5 mm(0,01 in/0,032 in/0,100 in)
·可选择短截止波长
·依照DIN/ISO/SEP标准的评定参数:Ra, Rz, Rmax, Rp, Rq, Rt, R3z, Rk, Rvk, Rpk, Mr1, Mr2, Mr, Sm, RPc;
·依照JIS标准的评定参数:Ra, Rz, Ry, Sm, S, tp; Motif
·标准的评定参数:R, Rx, Ar, W, CR, CF, CL (3-区域测量)
·可显示公差及输出测量报告中
·显示比例可自动或手动选择
·可打印R-轮廓(ISO/JIS), P-轮廓(Motif), 材料率曲线, 等测量报告
·测量报告可输出测量日期及时间
·内置存储卡可存储200组测量数据
·动态传感器校准
·锁定功能可避免仪器参数被意外修改并能设置任意密码保护
Perthometer M2便携式粗糙度测量仪主要技术指标
相对误差: ≤±5%
测量原理:指针电感触方式
测量范围:100 um
测量速度:0.5 mm/s
轮廓分辨率:12 nm
滤波:高斯 相关产品: