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AEC-Q101认证试验,半导体器件检测
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工程商广电计量检测集团股份有限公司(简称:广电计量)成立于2002年,是广州无线电集团旗下A股上市企业。广电计量前身是原电子602计量站,经过多年的发展,现已成为一家全国布局、综合性的国有第三方计量检测机构,专注于为客⼾提供计量、检测、认证、评价咨询等“一站式”技术服务,在计量校准、可靠性与环境试验、电磁兼容检测等多个领域的技术能力及业务规模处于高水平。
广电计量坚持以客户为中心,在全国主要经济圈设有60多家分子公司,拥有近6000名优秀员工,搭建了全国一体化计量检测与认证技术公共服务平台。企业服务能力覆盖装备制造、汽车、航空、轨道交通、船舶、通信、电力、电子电器、食品、环保、农业、医疗、石化等领域,可迅速响应各行业产业链上下游客户需求,为客户提供近距离、本地化的专业服务,帮助其提升自身竞争力。
广电计量视公信力为企业生命,技术能力获得了众多国内外机构和组织的认可和,通过了中国合格评定国家认可委员会(CNAS)、中国计量认证(CMA)、农产品质量安全检测机构(CATL)认可,是农业部“三品一标”检测实验室、全国土壤污染详查推荐检测实验室、中国CB实验室。基于遍布全国的服务网络和公信力,广电计量帮助客户稳健开拓本地市场乃至市场。
广电计量坚持创新驱动战略,致力于增强自主创新能力与核心竞争力,推动中国标准和中国制造走向世界。公司建有省市两级院士工作站,搭建了技术研究院、产业研究院等科研平台。在新能源汽车、轨道交通、无线通信等国家重点产业领域,先后主持编写90多项计量测试标准及规程,承担60多项国家、省部级等重点科研项目。
作为一家具有高度社会责任感的国有企业,广电计量以“传递质量信任、让人民生活更美好”为己任,全过程为产品质量安全、食品安全、生态环境安全和公平竞争市场秩序提供专业技术支撑,并在扶危济困、捐资助学、疫情防控等方面以实际行动践行社会责任,争做优秀国企标兵。
在高质量发展的新时代,广电计量将继续秉持科学、公正、准确、快捷、周到的服务理念,不断提升综合管理水平,增强技术服务能力,为“质量强国”建设保驾护航,为保障人民群众的美好生活不懈努力!
服务背景
AEC-Q101对对各类半导体分立器件的车用可靠性要求进行了梳理。AEC-Q101试验不仅是对元器件可靠性的国际通用报告,更是打开车载供应链的敲门砖。 广电计量AEC-Q101认证试验,半导体器件检测在SiC第三代半导体器件的AEC-Q认证上具有丰富的实战经验,为您提供专业可靠的AEC-Q101认证服务,同时,我们也开展了间歇工作寿命(IOL)、HAST、H3TRB、HTRB、HTGB、高压蒸煮(Autoclave)试验服务,设备能力覆盖以SiC为第三代半导体器件的可靠性试验能力。
序号 | 测试项目 | 缩写 | 样品数/批 | 批数 | 测试方法 |
1 | Pre- and Post-Stress Electrical and Photometric Test | TEST | 所有应力试验前后均进行测试 | 用户规范或供应商的标准规范 | |
2 | Pre-conditioning | PC | SMD产品在7、8、9和10试验前预处理 | JESD22-A113 | |
3 | External Visual | EV | 每项试验前后均进行测试 | JESD22-B101 | |
4 | Parametric Verification | PV | 25 | 3 Note A | 用户规范 |
5 | High Temperature Reverse Bias | HTRB | 77 | 3 Note B | MIL-STD-750-1 M1038 Method A |
5a | AC blocking voltage | ACBV | 77 | 3 Note B | MIL-STD-750-1 M1040 Test Condition A |
5b | High Temperature Forward Bias | HTFB | 77 | 3 Note B | JESD22 A-108 |
5c | Steady State Operational | SSOP | 77 | 3 Note B | MIL-STD-750-1 M1038 Condition B(Zeners) |
6 | High Temperature Gate Bias | HTGB | 77 | 3 Note B | JESD22 A-108 |
7 | Temperature Cycling | TC | 77 | 3 Note B | JESD22 A-104 Appendix 6 |
7a | Temperature Cycling Hot Test | TCHT | 77 | 3 Note B | JESD22 A-104 Appendix 6 |
7a alt | TC Delamination Test | TCDT | 77 | 3 Note B | JESD22 A-104 Appendix 6 J-STD-035 |
7b | Wire Bond Integrity | WBI | 5 | 3 Note B | MIL-STD-750 Method 2037 |
8 | Unbiased Highly Accelerated Stress Test | UHAST | 77 | 3 Note B | JESD22 A-118 |
8 alt | Autoclave | AC | 77 | 3 Note B | JESD22 A-102 |
9 | Highly Accelerated Stress Test | HAST | 77 | 3 Note B | JESD22 A-110 |
9 alt | High Humidity High Temp. Reverse Bias | H3TRB | 77 | 3 Note B | JESD22 A-101 |
10 | Intermittent Operational Life | IOL | 77 | 3 Note B | MIL-STD-750 Method 1037 |
10 alt | Power and Temperature Cycle | PTC | 77 | 3 Note B | JESD22 A-105 |
11 | ESD Characterization | ESD | 30 HBM | 1 | AEC-Q101-001 |
30 CDM | 1 | AEC-Q101-005 | |||
12 | Destructive Physical Analysis | DPA | 2 | 1 NoteB | AEC-Q101-004 Section 4 |
13 | Physical Dimension | PD | 30 | 1 | JESD22 B-100 |
14 | Terminal Strength | TS | 30 | 1 | MIL-STD-750 Method 2036 |
15 | Resistance to Solvents | RTS | 30 | 1 | JESD22 B-107 |
16 | Constant Acceleration | CA | 30 | 1 | MIL-STD-750 Method 2006 |
17 | Vibration Variable Frequency | VVF | 项目16至19是密封包装的顺序测试。 (请参阅图例页面上的注释H.) | JEDEC JESD22-B103 | |
18 | Mechanical Shock | MS | JEDEC JESD22-B104 | ||
19 | Hermeticity | HER | JESD22-A109 | ||
20 | Resistance to Solder Heat | RSH | 30 | 1 | JESD22 A-111 (SMD) B-106 (PTH) |
21 | Solderability | SD | 10 | 1 Note B | J-STD-002 JESD22B102 |
22 | Thermal Resistance | TR | 10 | 1 | JESD24-3,24-4,26-6视情况而定 |
23 | Wire Bond Strength | WBS | 最少5个器件的10条焊线 | 1 | MIL-STD-750 Method 2037 |
24 | Bond Shear | BS | 最少5个器件的10条焊线 | 1 | AEC-Q101-003 |
25 | Die Shear | DS | 5 | 1 | MIL-STD-750 |
Method 2017 | |||||
26 | Unclamped Inductive Switching | UIS | 5 | 1 | AEC-Q101-004 Section 2 |
27 | Dielectric Integrity | DI | 5 | 1 | AEC-Q101-004 Section 3 |
28 | Short Circuit Reliability Characterization | SCR | 10 | 3 Note B | AEC-Q101-006 |
29 | Lead Free | LF | AEC-Q005 |