ECLIPSE 显微镜机身采用模块化制造，可满足多领域的工业应用，其中包括半导体器件、封装、FPD、电子器件、材料和精密模具制造等。ECLIPSE LV 系列经过不断的发展完善并配备了新的光学系统和功能，可根据观察方法和目的 选择支架装置和照明装置以满足多种观察需求。用户可选择使用电动和手动操控模式以及反射照明专用模式和反射／透射组合照明模式以满足任何应用需求。

特点：
CFI60-2 经过改进的光学性能
以的高数值孔径和长工作距离设计理念而著称的尼康 CFI60 光学系统。
经过进一步改进，具有的长工作距离、色差校正性能和更轻的重量。
轻松的操作 与数码相机集成

现可使用数码控制装置来检测包括物镜信息在内的显微镜信息，以及对显微镜进行电动操作，以更高效地进行观察和图像拍摄。

观察方法
可支持多种观察方法：明场、暗场、偏光、微分干涉、落射荧光和双光束干涉测量观察功能。此外，LV100DA和LV100DA-U还可提供透射型微分干涉、暗场、偏光和相衬观察功能。

半导体（IC晶片）

从物镜到照明系统，LV-N系列采取了的防眩光措施，确保生成明亮、高对比度的图像。

采用尼康设计理念开发的物镜暗场照明系统可实现明亮的暗场观察，从而可对标本差异和缺陷进行高灵敏度的检测。

基板（焊点）

LV-N系列在观察有机EL或安装的基板等具有荧光性质的标本时表现出了的性能。

矿物质

LV-N系列十分适合观察具有双折射性质的标本，例如：容易失真的液晶或塑料/玻璃等。

云母

LV-N系列可使用Michelson(TI)和Mirau(DI)反射型双光束干涉测量法。当配合使用测微计目镜时，可在不接触标本的情况下检测和测量标本的细微差异。

LCD（彩色滤光片）

LV-N系列十分适合观察透明标本，例如：光学器件、FPD和载玻片标本。当配合使用C-SP简易起偏器和检偏器时，可进行透射型简易偏光观察。

感光乳剂

可通过明/暗对比和利用衍射和干涉两种光线属性来显现无色、透明的标本。

纳米粒子（银）

可利用偏光使两束光之间产生干涉以在三维空间中观察无色、透明的标本。

LV100DA