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LS225涂层测厚仪+N1500探头
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LS225+N1500是一款便携式分体式的涡流测厚仪，由主机LS225和非铁基探头N1500组成。仪器采用涡流感应原理，具有高的测量精度和重复性，配上探针式的测头设计，特别适用于测量各种小尺寸工件、异形材料的涂层厚度。
LS225涂层测厚仪产品特点：
1.探针式测头设计
探针式测头设计，特别适合于测量小尺寸和异型材料上的涂层及覆层厚度，测头顶端采用高硬度红宝石，可确保仪器具有超长使用寿命
2.可测超薄涂镀层
采用数字震荡技术和高速ADC采集
可测量10μm以下超薄涂层且确保数据准确稳定
3.手压机架测试更准确
选购专用的手压测试机架能消除人为因素造成的误差，数据重复性可达0.1μm
4.多点校准，数据更准确
支持调零和多点校准确保数据更加准确，配备专门的调零板和标准片
5.具备数据统计功能
具备数据统计功能，自动统计最近测试的9组数据的值，最小值，平均值和方差值
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仪器参数Technical data
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LS225涂层测厚仪产品参数：
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