起订量:
关联工业显微镜
免费会员
为了获得样品的实质,需要经常使用多种方法进行分析。从微米级到纳米级的观察需要将光学与电子显微镜(CLEM)或X射线显微镜与FIB-SEM聚焦离子束扫描电子显微镜(CXF)进行相关联。蔡司的关联显微镜技术为您提供了集成化的解决方案和无缝衔接的工作流程。选择蔡司作为光学显微镜、电子显微镜、离子束显微镜和X射线显微镜的供应商,并从多年的关联分析经验中受益。选择以样品为中心的图像和数据关联技术,使您的研究工作超越单一显微镜能够达到的技术界限。
蔡司关联显微镜技术已被证实可成功识别3D打印部件中的杂质,并通过应用多个工作流程来了解其产生原因。蔡司Xradia Versa被用来进行大范围扫描,然后将可疑的亮点位置转移到蔡司 Crossbeam中,并用蔡司Atlas 5重新定位,最后利用EDX进行分析。这种方法可以识别杂质的来源,这些杂质往往来自于之前的3D打印作业,由于使用了不同的粉末材料而未能清洁粉末容器而引入的。
为了使用光学显微镜检测纳米颗粒和纳米材料(如石墨烯),研究人员使用蔡司Axio Imager显微镜优异的偏振光衬度,并将其与蔡司全干涉衬度(TIC)模块相结合,使得可以对纳米材料的厚度进行检测。接下来,使用关联显微镜技术,使蔡司 FE-SEM可对石墨烯薄片重新定位,以便能够观察其结构和化学成分。由于类似碳元素和官能团之类的轻元素通过EDX无法进行表征,研究人员使用蔡司原位拉曼显微镜(RISE)进行研究,从而获得石墨烯片的质量信息。
表征对工艺流程起决定性作用的颗粒。关联 Particle Analyzer 将光学显微镜与电子显微镜两者的分析数据相结合。使用光学显微镜检测到颗粒后,您可以借助蔡司关联显微镜颗粒度分析自动完成颗粒的重定位和 EDX 分析。它是完整表征残留颗粒的理想方法。
关联 Particle Analyzer 会以报告的形式自动记录光学显微镜和电子显微镜两者的分析结果。关联显微镜颗粒度分析仪比单独先使用光学显微镜然后再使用电子显微镜的分析方案速度要快 10 倍多。