近年来，随着工业电子设备线路设计日趋复杂，焊料无铅化的日益严格，促使各类制造工艺的研究和应用越来越受到重视并取得了新的发展。但各种元器件或是电路信号传输的载体材料，其质量的好坏与可靠性水平决定了产品的质量与可靠性。但是由于成本以及技术的原因，载体材料在生产和应用过程中出现了大量的失效问题，对于这种失效问题，我们需要得到一些失效原因分析技术，来使得各种元器件等载体材料在制造的时候质量和可靠性水平得到一定的保证。
H-X系列扫描电子显微镜就是为载体材料失效分析技术的提供技术解决方案，本仪器凝聚科学家团队多年心血，对产品的外观形态、运控系统、功能结构、人机交互关系等前沿工业科学应用进行集成优化设计，运用新技术将生产流程数字化、智能化，严格出厂标准性能测试，采用了智能测量分析系统软件及高性能的微机硬件，使其具有强大的高速数据采集与大规模数据分析处理能力，更加提高了测试数值的准确性，为用户提供操作更精确、更标准、更高效的仪器设备。
H-X系列扫描电子显微镜凝聚了工业科学前沿领域的国际技术，新研发机型的H-X100C扫描电子显微镜不仅保持了H-X100系列A、B机型的极简操作性技术延续，还拥有的可扩展性接口，其极简集成化的智能测量分析软件系统更能快速完成从图像观察、元素分析到生成报告的连贯操作。
H-X100系列扫描电子显微镜由真空系统、电子光学系统、样品室和样品台、电子探测器、背散射电子探头、真空泵、自动稳压器、专用工具、计算机、极简的智能测量分析系统软件及附件组成的科学研究仪器。

一 应用范围
H-X系列扫描电子显微镜涵盖以生物技术和纳米技术为首的包括材料开发、测试、评估和缺陷分析及质量控制等广泛领域；适用于材料科学、化学化工、生命科学以及相关领域的研究工作，对各种材料、化工产品、生物制品、非金属矿及深加工产品等进行观测分析试验。

二 测试步骤
将测试样品载体放入扫描电子显微镜样品室中，使用高效能的加速电压对样品载体的测试位置进行放大观察观测，并用X射线能谱分析仪对样品进行EDS元素定性半定量分析。

三 功能特性
1）使用多点触摸屏，操作舒适
通过多点触控技术和智能测量分析系统软件，极简科学的操作界面直观简单，只需轻触屏幕就能像操作智能手机一样操控各种功能，简单快捷易懂，即使是新员工也能轻松获得高品质的观测图像进行EDS元素分析。
2）适应各种环境的移动式扫描电镜
操作员在PC上就可以进行观察和分析，只要移动触摸屏，在远离装置的地方也能够进行操作控制。只需 AC100V 插座就可以安装，用脚轮即可自由移动。
3）的EDS能谱分析技术
·可扩展EDS元素分析功能，并为多种探测器预留接口。
·触控式扫描电镜不仅功能全面，而且坚固耐用，能够很好的满足不同实验室的需求，能够提供高分辨率，并能够在高真空和低真空模式下提供系列高效能的加速电压，能够轻松快速获取高质量的的二次电子和背散射电子像。
·采用新型探测技术的嵌入式智能软件系统，具有面分布分析、多点分析、自动漂移补偿、线扫描等技术应用功能。
4）的显微镜表面分析技术
·采用技术的显微镜；
·有较高的放大倍数，几万到几十万倍之间连续可调；
·有很大的景深，视野大，成像富有立体感，可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构；
·H-X系列标配X射线能谱仪装置，可以同时进行显微组织性貌的观察和微区成分分析；
·试样准备简单；