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日本电测Sn/Ni 镀层等膜厚检测仪CT-3
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日本电测Sn/Ni 镀层等膜厚检测仪CT-3
轻巧,紧凑的机身高
操作性和功能性支持各种电镀测量
・重量轻且紧凑的机身,重量为3.0 kg
・在任何电镀范围内均可测量
・增加了高灵敏度范围
・碳水化合物比率范围宽广,为±15%
・ C垫片范围标准设备
轻巧紧凑
它是一个非常紧凑的机身,重量为3.0千克。
增加了高灵敏度范围
在灵敏度设置中,可以将灵敏度设置为高于以前的模型,并且可以提高测量的稳定性。
广泛的碳水化合物比率范围
通过用标准板校准,汽化器范围可达±15%。
1/100范围是可能的
可以用于Au,Cr等薄膜镀覆的1/100范围(以0.001μm为单位测量)是可能的。
标准配备3种垫片范围
可以使用三种类型的垫圈,分别为3.4φ,2.4φ和1.7φ。
配备主动功能
有源功能允许去除某些氧化膜,从而减少了由于氧化膜导致的测量失败
简易范围设定
由于所有设置都是通过刻度盘进行的,因此可以轻松地为要测量的镀层进行z佳设置。
日本电测Sn/Ni 镀层等膜厚检测仪CT-3
测量范围 | 0.006至300μm |
z低分辨率 | 0.125μ/秒或0.0125μ/秒,0.00125μ/秒 |
机体精度 | ±1% |
计量单位 | μm,nm(通过LED显示屏直接读取) |
测量面积 | 使用A型垫片时3.4mmφ使用 |
电源供应 | AC100V(110V,220V),50 / 60Hz |
车身尺寸 | 宽240 x深181 x高121毫米 |
重量 | 3.0kg(仅限主机) |