理学 Rigku X射线衍射仪 XRD

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理学 Rigku X射线衍射仪 XRD

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详细信息

概述
产品参数

日本理学Rigku XRD SmartLab系列,是当是一款多功能的X射线衍射仪,它采用了理学CBO交叉光学系统、自动识别所有光学组件、样品台、智能的测量分析软件SmartLab Guidance,一台仪器可以智能进行普通粉末样品、液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品测试。The SmartLab 高分辨衍射系统全自动模块化XRD系统的代表。该系统配备了高分辨θ/θ闭环测角仪驱动系统,选配的in-plane 扫描臂、9kW转靶发生器,全自动光学系统实现*的测量。


主要特点:

1、智能X射线衍射仪SmartLab系列,可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。

2、可以分析的材料包括:金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料。

3、可以分析的材料状态包括:粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品。


日本理学Rigku XRD Ultima IV是一款多功能X射线衍射仪的设备,结合了理学公司CBO技术,平行光与聚焦光灵活转换,Ultima IV X射线衍射仪可快速执行多种不同测量,采用全自动校准的X射线衍射仪,CBO技术与自动校准相结合,使Ultima IV X射线衍射仪成为多功能应用的灵活系统,CBO技术缩短了切换测角仪时花费的时间,使日常用户可以运行两组试验而无需重新设置系统,可以减少经常切换造成的磨损和光路损坏。


自动校准:

1、粉末衍射

2、薄膜衍射

3、小角散射

4、In-plane散射

5、快速、灵活、实用


日本理学Rigku XRD MiniFlex应用于石棉、游离氧化钙等定量分析、工业原材料品质管理、大学、科研等,此款设备具有600W功率,是其他台式机的两倍,高分辨、高精度、高信噪比,丰富的附件可供选择,满足广泛应用需要。


产品特点:

1、安全设计: 采用联锁装置,在X射线开启状态下无法打开样品室操作窗。在测试中如果指令样品室解锁,则快门关闭同时停止X射线。

2、高分辨率: 入射和发散狭缝可选,为您提供所需的分辨率。

3、高 精 度: 实时角度校正功能,大幅提高角度精度、强度等基本性能,得到高精度测试数据。

4、高信噪比: 可以选配单色器,用于扣除荧光X射线背底,提高信噪比进行高质量数据测试。

5、丰富附件: 一维高速探测器、6位样品自动转换器、旋转样品台、气密样品台等。


主要应用:

1、粉末样品的物相定性与定量分析;

2、计算结晶化度、晶粒大小;

3、确定晶系、晶粒大小与畸变;

4、Rietveld定量分析;

5、薄膜样品分析,包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度,电荷密度;

6、In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构;

7、小角散射与纳米材料粒径分布;

8、微区样品的分析。

产品参数

1、X射线发生器功率为3KW、新型9KW转靶;

2、测角仪为水平测角仪;

3、测角仪进为1/10000度,精度测角仪(双光学编码、直接轴上定位);

4、测角仪配程序式可变狭缝;

5、自动识别所有光学组件、样品台;

6、CBO交叉光路,提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路(带Mirror);

7、小角散射测试组件(SAXS / Ultra SAXS);

8、多用途薄膜测试组件;

9、微区测试组件、CBO-F微区光学组件;

10、In-Plane测试组件;

11、入射端Ka1光学组件;

12、高速探测器D/teX-Ultra(能量分辨率20%以下);

13、二维面探PILATUS 100K/R(用于同步辐射环的探测器,可以接收直射X射线);

14、智能的测量分析软件SmartLab Guidance。

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