可靠性试验设备-饱和加速寿命试验机 环境试验箱

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J-PCT 可靠性试验设备-饱和加速寿命试验机 环境试验箱

型号
J-PCT
参数
产地:国产
合肥巨阙电子有限公司

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电子元件及测试设备

合肥巨阙电子作为一家拥有自主知识产权及核心技术的企业,专注于电讯测试和模拟环境测试领域,产品主要用于新型显示、半导体集成电路、汽车电子等行业,公司坚持在技术创新、产品质量上为客户提供专业高效的智能化测试设备及整体解决方案。

 

 

 

详细信息

可靠性试验设备-饱和加速寿命试验主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿着胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障。


可靠性试验设备-饱和加速寿命试验特点:

1.内箱材料采用SUS304不锈钢;外箱材料采用双面镀锌钢板表面静电喷塑处理。外观采用简约实用设计风格,具有耐用性和抗磨损性特点

2.跨平台控制系统可实现远程监控、数据上抛,异常推送,手机程序监管及兼容MES数据交互

3.智慧型饱和蒸汽温度值,人力控制装置于饱和蒸汽压力检知

4.白金温度传感(PT-1OO型)感知精确温度

4.棋置形圆形内箱结构设计,方便待测样品取置与蒸汽冲击隔离装置

5.全自动真空清洁程序,减低试品污染

 

规格:

型号

J-PCT-40

J-PCT-60

J-PCT-80

容积/L

40

60

80

整体尺寸

W*H*D) cm

900x1800x1120

 

以图纸为准

 

以图纸为准

 

温度范围

RT+20)℃~250℃

温度控制范围

105℃+150℃

湿度范围

100 %RH

温度上升时间

100min (从常温到120C且温度到达85%RH的时间)

温度偏差

≤±1.5℃(空载)

温度均匀度

≤±1.5℃(空载)

压力波动均匀度

±0.1kg

电源

AC220V或AC380V


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产地 国产
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