不锈钢分析仪厂家 手持式x射线荧光分析仪

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湖北盛德坤智能科技有限公司专业生产和销售:手持式光谱仪,手持式合金分析仪,重金属检测仪,直读光谱仪,VOC检测仪,合金分析仪,元素分析仪,紫外光谱仪,重金属分析仪,VOC检测,贵金属检测,贵金属检测仪。公司专业从事光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售。湖北盛德坤智能科技有限公司将以“分析行业者”的姿态,不断探究世界分析领域的前端。为客户提供更加*的产品和更加满意的服务,同时为电子、电器、珠宝、玩具、食品、建材、冶金、地矿、塑料、石油、化工、医药等众多行业提供更为完善的行业整体解决方案,从而推动化。

详细信息

分析方法能量色散X荧光分析方法 测量元素范围镁(Mg)到铀(U)之间的元素均可测量 同时检测元素数几十种元素可同时分析 处理器和内存CPU:667MHz,内存:256M,扩展存储支持32G,标配2G,可以海量存储数据 含量范围ppm~99.99% 检测时间3-30秒 GPS、WIFI内置系统 检测对象固体、液体、粉末 探测器25mm2 0.3mil,SDD探测器 探测器分辨率可达139eV 激发源40KV/100uA-银靶端窗一体化微型X光管及高压电源 视频系统高清晰摄像头 显示屏半透半反式液晶显示触摸屏,其分辨率是640*480 检出限检出限达ppm级 安全性自带密码管理员模式,数据可随意保存 可充气系统常压充氦气系统 数据传输数字多道技术,SPI数据传输,分析,高计数率 操作环境湿度≤90% 仪器外形尺寸234×306×82mm(L×H×W) 仪器重量1.9Kg(配备电池),1.6Kg(无电池)
手持式x荧光光谱仪 产品特点 1、轻小、便携 2、无损 3、用户界面简捷、明了 4、中文操作界面(12种以上语言供选) 5、检测速度快 6、分析精度高 7、存储空间大 8、数据传输方便,快捷 9、减震、防水、抗压仪器箱
仪器既可手持1-2秒对样品进行测试,也能使用座式对样品进行较长时间的精细测试,10秒即可进行接近实验室精度的测量。 数据传输更加高速 采用嵌入式Windows CE系统,高显示分辨率(640*480)液晶显示触摸屏,结合数字多道技术,采用SPI数据传输,有效提升数据传输能力与数据运算能力。在任何环境中,测试数据都尽在掌中。 防护、关爱健康 三重防护功能,自动感应,具有无样品空测,2秒自动关X光管功能;工作时的水平远低于国际标准,无射线泄漏;加厚防护测试壁;配送测试防护罩。 电量强劲、充电方便。
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技术参数: 重量: 1.6kg 尺寸: 30cm(L) x 10cm(W) x 28cm(H) 激发源: X射线管,Ag靶,40kV 检测器: SI-PIN检测器 操作系统:HP掌上电脑:Windows 5.0 Bruker 软件 冷却系统:Peltier 半导体冷却系统 电源: 交、直流供电;充电锂电池 工作条件:温度:-20 ℃ ~ 55 ℃  湿度:0~95%
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合金材料分析 目前在合金材料检测领域,它主要用于、航天、钢铁、石化、电力、制药等领域金属材料中元素成份的现场测定,是伴随世界经济崛起的工业和制造领域的成份鉴定工具。 重金属检测 除了传统的合金材料检测,贵金属,RoHs合规筛查,矿石分析,手持式XRF仪器同样在地质勘探和环境评估中发挥着重要的作用,通过分析土壤中的重金属元素,可以知道整个区域的矿产分布和污染分布。 其他领域 XRF技术还可以用于一些新的领域,比如风电和汽车领域,通过对油品中金属元素含量进行检测,可以间接反映轴承的磨损情况。还有许多新的XRF应用领域正在被开发出来,使得XRF技术在各个行业领域得到了广泛的应用。比如工厂的生产制造环节的焊接质量控制,也会用到XRF合金分析仪。
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对于金属制造行业来说 ,质量控制和非常重要。材料检验是确保金属制品使用合格材质的关键。如 果使用不合格的金属合金,会引起灾难性事故,给企业 带来巨大的经济损失。手持合金成分分析仪是检测金属材料是否合格的关键性手段。有了手持式合金分析仪,质量控制以及检测人员可以 在无损的条件下,每天地检测上千个金属合金样 品。即使是普通工作人员也有把握地将大量的 样 品 测 出 完 整 而 准确 的 结 果 。测试时间是1~2秒,无需制备样品,从金属细丝到成品焊点,螺钉, 金属板 ——所有这些样品都可以被手持分析仪检测。
手持式光谱仪系统误差的来源有: (1)标样和试样中的含量和化学组成不相同时,可能引起基体线和分析线的强度改变,从而引入误差。 (2)标样和试样的物理性能不相同时,激发的特征谱线会有差别从而产生系统误差。 (3)浇注状态的钢样与经过退火、淬火、回火、热轧、锻压状态的钢样金属组织结构不相同时,测出的数据会有所差别。 (4)未知元素谱线的重叠干扰。如熔炼过程中加入脱氧剂、除硫磷剂时,混入未知合金元素而引入系统误差。 (5)要系统误差,必须严格按照标准样品制备规定要求。为了检查系统误差,需要采用化学分析方法分析多次校对结果。

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