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SGW®X-4A 上海物光显微熔点仪SGW X-4A
- 型号
- SGW®X-4A
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详细信息
产品特征
1、仪器采用显微镜观察方法，具有二种测试模式，既可用（毛细管法）测定，又可用（载玻片-盖玻片法）测量，测试样品面广。
2、工作台选用(热台法)测定，保证了测量精度稳定性、重复性。
3、特制的防风罩，减少了环境对测试结果的影响。
4、显微熔点仪是作为教学仪器的选择。
技术参数
仪器型号 | SGW® X-4A |
测量范围 | 室温~320 ℃ |
测量方法 | 目视 |
测量模式 | 毛细管法、热台法 |
最小示值 | 0.1℃ |
重复性 | ≤200℃ ±1℃ ＞200℃ ±2℃ |
观察方式 | 单目显微镜 |
放大镜倍数 | 40× |
电源 | 220V±22V,50Hz±1Hz |
仪器尺寸 | 30mm×22mm×44mm |
仪器净重 | 4.5kg |
