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高频(微波)介电常数测试仪(同轴共振腔)
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仪器简介:
日本AET微波(高频)介电常数测试仪, 利用微波技术结合高Q腔以及3D电磁场模拟技术,采用德国CST公司的3D电磁类比软件MW-StudioTM,测量材料的高频介电常数,此方法保证了介电常数测量结果的精确性。
AET公司开发了二种共振腔:空洞共振腔和开放式同轴共振腔用于测试环境腔.
技术参数:
可测试频率范围: 800-18GHz
介电常数Epsilon:1-15, 准确度: ±1%,
介电损耗tangent delta:0.1-0.001, 准确度:±5%
共有三种同轴共振腔,每个腔可测五个频点:
0.8/2.45/4.2/5.8/7.6GHz
or 1/3/5/7/9GHz
or 2/6/10/14/18GHz
主要特点:
同轴共振腔适用于不同形状样品:包括薄膜样品的非破坏性测量,使用简易的逐步操作,内置的反馈振荡器电路可实现精确的量测。
应用领域:
高速数字/微波电路用基底材料 ;滤波器和介电天线用低损耗电介质 ;化学制品;
薄膜与新材料;半导体材料;电子材料(包括CCL和PCB)
陶瓷材料;纳米材料;光电材料等
相关资料
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