电子元器件切片失效分析

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BX51M 电子元器件切片失效分析

型号
BX51M
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显微镜,拉力试验机,硬度计,高低温试验箱,磨抛机,切割机,玻璃纸

 

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百贺仪器的承诺:*的品质,专业的服务。
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详细信息

BAHENS仪器为您提供电子元器件切片失效分析详细的方案介绍:
电路板品质的好坏、问题的发生与解决、制程改进的评估,在都需要切片做为客观检查、研究与判断的根据。切片质量的好坏,对结果的判定影响很大。
切片分析主要用于检查PCB内部走线厚度、层数,通孔孔径大小,通孔质量观察,用于检查PCBA焊点内部空洞,界面结合状况,润湿质量评价等等。切片分析是进行PCB/PCBA失效分析的重要技术,切片质量将直接影响失效部位确认的准确性。
切片步骤:
取 样(Samplc culling)→封 胶(Resin Encapsulation)→研磨(Crinding)→抛 光(Poish)→微 蚀(Microetch)→观察(Inspect)
依据标准:
制样:IPC TM 650 2.1.1,评判:IPC A 600, IPC A 610
电子元器件结构观察,如倒装芯片( Flip Chip)、铝/铜制程结构、COMS、POP等
应用领域
PCB结>及通孔观察
PCBA焊点观察
LED结构观察
金属及零部件结构观察

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