FEI扫描电镜Verios XHR SEM

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Verios XHR SEM
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详细信息

Verios 是 FEI 可靠的 XHR(分辨率)SEM 系列的第二代产品。在半导体制造和材料科学应用中,它可在1至30 kV 范围内提供亚纳米量级分辨率以及增强的对比度,满足材料精密测量所需,同时又不会削弱传统扫描电子显微镜 (SEM) 所具有的高吞吐量、分析能力、样本灵活性和易用性等优势。

Verios 的材料科学应用


对材料科学家来说,Verios 可以将亚纳米表征拓展到当下正在开发的全新材料(例如催化剂颗粒、纳米管、孔隙、界面、生物对象和其他纳米量级结构),从

而让他们获得重要的新发现。无需转而采用 TEM 或其他成像技术便可获得高分辨率、高对比度图像。Verios 可灵活用于各类研究应用,能够容纳全尺寸晶圆或

冶金样本之类的大样本。您可以在高电流模式下执行快速分析,也可以开展精确的原型设计应用,例如电子束感应式材料直接沉积或光刻。

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