日本HORIBA 微区X射线荧光分析仪 XGT-9000

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日本HORIBA 微区X射线荧光分析仪 XGT-9000

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上海亨东仪器有限公司是一家专注于仪器仪表、环保设备、检测设备、电气设备、五金工具、机械设备及配件、化工原料的开发,代理,销售和服务工作。供应HACH哈希COD试剂,WTWBOD测定仪,哈纳HANNA离子剂,Lovibond BOD测定仪,Lovibond色度仪等产品。公司拥有强大的专业技术服务支持队伍,的销售工程师,完善的售后服务体系,让服务更专业、更经济!上海亨东仪器有限公司在仪器领域拥有多年的研发和市场推广经验,并与一些院校和科研单位有着长期良好的合作关系.上海亨东仪器有限公司主要提供如下产品:水质分析仪品牌及检测项目美国哈希HACH,德国WTW,意大利HANNA,德国LOVIBOND、德国赛多利斯、瑞士梅特勒。 PH计/酸度计、电导率测定仪、溶解氧测定仪、水质离子测定仪、浊度测定仪、水质硬度计、化学需氧量COD/生化需氧量BOD快速测定仪、余氯总氯比色仪、总氮总磷分析仪、非分散红外测油仪/油分仪、农药残毒速测仪、土壤养分速测仪、紫外可见分光光度计、水质采样器、负离子浓度测试仪、电子天平等。水质分析仪品牌及检测项目嘉兴红声,杭州爱华,嘉兴恒升,美国NK等。噪声、振动、气象、风速、电磁辐射及放射性监测分析;电子安规测试;工业生产检测;以及工业卫生和食品安全等各种用途的仪器仪表等。检测设备、电气设备品牌及检测项目日本日置、美国luyor、中国台湾固纬、德图TESTO、日本图技GRAPHTEC红外测温仪、涂层测厚仪、测振仪、转速表、测温仪、激光测距仪、测力计、兆欧表、万用表、钳形表、示波器、数字示波器、信号源、电源、频谱分析仪、功率分析仪、等测试仪器.

详细信息

速度和灵活性兼备是微区 X 射线荧光光谱的发展方向

  • <15µm 超高强度X射线头,兼具灵敏度和空间分辨率
  • 高分辨相机和多照明模式成像
  • 双检测器!荧光X射线检测器和透射X射线检测器
  • 轻元素检测器使元素检测范围下延C元素

XGT-9000是如何保证高性能下的速度和灵活性

激发系统

XGT-9000 以其精心设计的激发系统保证性能和灵活性,X射线发生器具有高达 50 kV 和 1000 µA 的高输出。 此外可以通过我们多样化的X射线头提供多种尺寸(10μm - 1.2mm)的激发用初级 X 射线,其中就包括超高强度X射线头(probe),以实现快速测量。

光学图像

抓取清晰的图像对于微区XRF至关重要,XGT-9000 提供高分辨率相机,可以获取整个样品及其细节显微镜水平的图像。同时,多种照明模式保证图像的清晰度,即便是透明或有较强反射的样品。

样品仓

XGT-9000 样品仓可容纳各种样品,包括微型碎片、印刷电路板、硬币、薄片、粉末、液体、晶圆,并根据需求提供各种样品架,此外最多可以选择 4 种测量环境来提高灵敏度。

检测器

XGT 9000提供透射和荧光X射线双探测器,透射X射线检测器使用户能够检测样品的内部缺陷和异物,而荧光X射线检测器(配置轻元素检测器)检测范围可从C到Am。

软件套件

功能强大的XGT 9000 软件,包括全面完整的基本测试功能,如单点测试、多点测试、线分析和Mapping测试等。除了基本测试功能外,还可以在软件套件中添加高级模块,以提供更丰富的用户体验。

  • 多层FPM模块可以进行厚度测试,有无标样都可以进行
  • RoHS检测模块用于RoHS要求的有害元素筛查
  • 队列模块自动进行多区域自动测试
  • 颗粒搜寻模块可以进行颗粒分析以及原位分析
  • LabSpec Link模块,将数据导入到LabSpec 6以进行多变量分析


型号 XGT-9000 XGT-9000SL
基本信息
仪器 微区X射线荧光分析仪
样品类型 固体、液体、颗粒
检测元素 轻元素检测器:C* – Am
(常规检测器:F – Am)
样品仓尺寸 450(W) x 500(D) x 80(H) 1030(W) x 950(D) x 500(H)
样品尺寸 300(W) x 250(D) x 80(H) 500(W) x 500(D) x 500(H)
样品质量 1 kg 10 kg
光学观察 两个带物镜的高分辨率相机
光学设计 垂直同轴 X 射线和光学观察
样品照明/观察 顶部、底部和侧向照明/明场和暗场
X-射线管
功率 50 W
电压 50 kV
电流 1 mA
靶材 Rh
X射线光光学系统
X射线头数量 最多配置四个
光谱优化初级X-射线滤光片 5个位置
检测器
荧光X-射线检测器 硅漂移检测器(SDD)
透射X射线检测器 NaI(Tl)
扫描分析
扫描范围 100 mm x 100 mm 350 mm x 350 mm
步进尺寸 2 mm 4 mm
Operating mode
样品环境 全真空/局部真空/大气环境/He吹扫(选配)

局部真空/大气环境/He吹扫(选配)*He吹扫条件对于两个检测器都检测到C和F是必要的。

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