速度和灵活性兼备是微区 X 射线荧光光谱的发展方向
- <15µm 超高强度X射线头,兼具高灵敏度和高空间分辨率
- 高分辨相机和多种照明模式成像
- 双检测器!荧光X射线检测器和透射X射线检测器
- 轻元素检测器使元素检测范围下延到C元素
起订量:
日本HORIBA 微区X射线荧光分析仪 XGT-9000
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激发系统XGT-9000 以其精心设计的激发系统保证性能和灵活性,X射线发生器具有高达 50 kV 和 1000 µA 的高输出。 此外可以通过我们多样化的X射线头提供多种尺寸(10μm - 1.2mm)的激发用初级 X 射线,其中就包括超高强度X射线头(probe),以实现快速测量。 | |
光学图像抓取清晰的图像对于微区XRF至关重要,XGT-9000 提供高分辨率相机,可以获取整个样品及其细节显微镜水平的图像。同时,多种照明模式保证图像的清晰度,即便是透明或有较强反射的样品。 | |
样品仓XGT-9000 样品仓可容纳各种样品,包括微型碎片、印刷电路板、硬币、薄片、粉末、液体、晶圆,并根据需求提供各种样品架,此外最多可以选择 4 种测量环境来提高灵敏度。 | |
检测器XGT 9000提供透射和荧光X射线双探测器,透射X射线检测器使用户能够检测样品的内部缺陷和异物,而荧光X射线检测器(配置轻元素检测器)检测范围可从C到Am。 | |
软件套件功能强大的XGT 9000 软件,包括全面完整的基本测试功能,如单点测试、多点测试、线分析和Mapping测试等。除了基本测试功能外,还可以在软件套件中添加高级模块,以提供更丰富的用户体验。
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