光束质量分析仪

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光束质量分析仪

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详细信息

一次测量即可获得M2和发散角,无需移动导轨,BeamWave光束质量分析仪,可测2~16um 

 

       普通的光束质量分析仪通常使用Shack-Hartmann探测器对波前能量进行测量取样,其具有测量速度慢且分辨率低,测量M2时移动繁琐等缺点。而法国BeamWave系列光束质量分析仪很好的克服了这些缺点,其采用了PhaseView公司的波前传感技术,CCD探测器和波前探测器只需一次成像就能瞬间采样,得到光束质量(M2)的数据,整个过程无需移动任何导轨部件,且测量速度快、分辨率高。BeamWave革命性的舍去了传统光束质量分析仪的复杂系统,没有笨重的移动部件和多余的附件 ,单一设备即可实现分析测量M2因子、光束形貌参数、光斑传播参数等所有的激光束参数。

       BeamWave系列光束质量分析仪采用的波前传感技术,它的原理是在CCD探测过程中,入射激光光斑会被分成两束激光,一快一慢分别先后的到达两个CCD探测器阵面上,得到两个光束图像。通过对比分析这两个图像的波前能量强度分布和波前相位分布可以分析的出该光束的M2值、发散角、光束位置和其它传播参数。

       法国PhaseView公司BeamWave光束质量分析仪以别具一格的光束质量M2测试技术而闻名,具有高分辨率、测量速度快、测量功能全面,无需繁琐的导轨等优点。它的通用性强,连续和脉冲光束都能测量且脉冲测量自动触发,功能全面,十分适合用于激光分析、眼科仪器、科研级光学精密仪器的表面和波前测量等应用。

 

PhaseView光束质量分析仪的优点:  


高分辨率光强和波前同步测量

连续和脉冲光束都能测量,脉冲测量自动触发 


只需一台BeamWave即可测量全部的光束参数 ,且价格相对优惠, 结构简单无需维护成本 

不需要复杂的移动导轨部件,瞬时单点M2测量,

 

1. 光束形貌参数:光束发散角,三维能量分布,光斑位置,腰斑大小,

2. 光束传播参数:波前曲率半径,波前能量、相位分布,锐利长度,腰斑大小和位置,等等    

3. M2因子

 

PhaseView光束质量分析仪型号参数:

型号

BeamWave500

BeamWave1000

BeamWave1500

BeamWave FIR

输入光束直径(1/e2

3.2mm

4.8mm(双CCD

6.4mm

10.88 x 8.16 mm

光束强度测量模式

连续或脉冲,XYZ三轴测量

波长范围

350  1100 nm

2-16 µ m

有效CCD口径

3.2mm

4.8mm

6.4mm

CCD像元大小

6.45 x 6.45 μm

17 µ m

M2测量功能

连续和脉冲激光

M2范围

1-50

M2精度

±5%

±5%

±5%

M2重复性

2%

波前测量功能

波前测量点数

500×500

1392×1040

1392 X1040

640 x 480

波前灵敏度,rms

0.005λ

0.005λ

3nm, >0.02λ

波前精度,rms

0.01λ

0.01λ

6nm, >0.01λ

0.01 λ

波前动态范围

1500λ

1500λ

1800λ

1500 λ

测量时间

实时

重量

0.35 Kg

2.5 Kg

1.15 Kg

0.272 Kg

尺寸

41×55×80

87×161×84 mm

114x72x172 mm

61×67 ×66 mm

光学接口

C-Mount

计算机接口

USB 2.0Windows 7XPVista

标配软件

GetLase

GetLase 

GetLase 

GetLase

GetWave

GetWave

GetWave

供电

USB供电,无需电源

可选项:

3ND Filter, Beam Splitter Wedges, IR Converter,光束缩束和扩束, Beam Reducer/Expander2X,3X,4X
      Software Development Kit
软件,GetWave软件波长从紫外到红外的特定探测器(其他波长)

 

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