天瑞Skyray Thick600 X荧光镀层测厚仪是集天瑞仪器多年镀层测厚检测技术和经验,以的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足金属镀层及含量测定的需要,人性化的设计,使测试工作更加轻松完成。天瑞Skyray Thick600 X荧光镀层测厚仪使用高效而实用的正比计数盒和电制冷探测器,以实在的价格定位满足镀层厚度测量的要求,且全新的更具有现代感的外形、结构及色彩设计,使仪器操作更人性化、更方便。天瑞Skyray Thick600 X荧光镀层测厚仪广泛应用于金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定电镀、PCB、电子电器、气配五金、卫浴等行业
天瑞Skyray Thick600 X荧光镀层测厚仪的性能特点:长效稳定X铜光管;半导体硅片电制冷系统,摒弃液氮制冷;内置高清晰摄像头,方便用户随时观测样品;脉冲处理器,数据处理快速准确;手动开关样品腔,操作安全方便;三重安全保护模式;整体钢架结构、外型高贵时尚;FP软件,无标准样品时亦可测量。
以下是艾克赛普为您介绍天瑞Skyray Thick600 X荧光镀层测厚仪的技术参数,如有相关问题,请联系长沙艾克赛普,联系电话: 。
型号:THICK600
分析范围: Ti-U,可分析3层15个元素
分析厚度:一般0.05-30um(不同元素厚度有所不同)
工作电压:AC 110V/220V(建议配置交流净化稳压电源)
测量时间:40秒(可根据实际情况调整)
探测器分辨率:(160±5)eV
光管高压:5-50kV
管流:50μA-1000μA
环境温度:15℃-30℃
环境湿度:30%-70%
准直器:配置不同直径准直孔,最小孔径φ0.2mm
仪器尺寸:610(L) x 355 (W) x 380(H) mm
仪器重量:30kg
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