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荧光寿命测试系统
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DeltaHub——DeltaFlex的关键部件
· 超短的死时间(10ns):配合高重复频率的激光光源和高速检测器,可实现无损失的光子计数,达到快速采集数据和准确的分析结果。
· 超快寿命测试技术:真正实现了荧光寿命动力学测试,采集时间低至1ms(同类产品中 快),支持1ms-10,000min无间断寿命动态监测。
新型脉冲半导体光源
DeltaFlex配置新型脉冲半导体光源作为荧光和磷光的激发光源(四大类型,百种可选),即插即用,无需校准,而且终身免维护。
其中DeltaDiode光源的重复频率可达100MHz,是超快寿命测试的 选择光源,同时可配置用于磷光测定的SpectraLED光源。与氙闪灯相比,SpectraLED具有265-1275nm宽波长的覆盖范围,以及实用方便、测试速度更快和信号无拖尾的优点。
科研级模块化设计
在DeltaFlex系统上无需更换控制器和检测器,即可实现11个数量级(25ps-1s)范围内的荧光寿命测试。系统采用科研级模块化设计,配合全新的F-Link技术,可自动识别各类部件,软件直接接入、附件即插即用,能够无限满足升级需求。尤其是其中采用了行业优先的寿命拟合软件,没有费用开放数十种主流专业拟合功能,可单独于仪器操作。
多种光谱仪可选,配合像差校正光栅,覆盖200-1600nm宽光谱范围,实现时间分辨发射谱功能,支持100条发射波长动态连续监测,软件自动获得衰减相关光谱参数。
荧光寿命技术是科研中强有力的工具,可广阔用于物理、化学、材料、信息、生物和医学等领域。
主要应用:
技术参数:
主要特点: