荧光寿命测试系统

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荧光寿命测试系统

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布鲁克 micro-CT

详细信息

DeltaHub——DeltaFlex的关键部件
· 超短的死时间(10ns):配合高重复频率的激光光源和高速检测器,可实现无损失的光子计数,达到快速采集数据和准确的分析结果。
· 超快寿命测试技术:真正实现了荧光寿命动力学测试,采集时间低至1ms(同类产品中 快),支持1ms-10,000min无间断寿命动态监测。


新型脉冲半导体光源
    DeltaFlex配置新型脉冲半导体光源作为荧光和磷光的激发光源(四大类型,百种可选),即插即用,无需校准,而且终身免维护。
    其中DeltaDiode光源的重复频率可达100MHz,是超快寿命测试的 选择光源,同时可配置用于磷光测定的SpectraLED光源。与氙闪灯相比,SpectraLED具有265-1275nm宽波长的覆盖范围,以及实用方便、测试速度更快和信号无拖尾的优点。


科研级模块化设计
    在DeltaFlex系统上无需更换控制器和检测器,即可实现11个数量级(25ps-1s)范围内的荧光寿命测试。系统采用科研级模块化设计,配合全新的F-Link技术,可自动识别各类部件,软件直接接入、附件即插即用,能够无限满足升级需求。尤其是其中采用了行业优先的寿命拟合软件,没有费用开放数十种主流专业拟合功能,可单独于仪器操作。
    多种光谱仪可选,配合像差校正光栅,覆盖200-1600nm宽光谱范围,实现时间分辨发射谱功能,支持100条发射波长动态连续监测,软件自动获得衰减相关光谱参数。


    荧光寿命技术是科研中强有力的工具,可广阔用于物理、化学、材料、信息、生物和医学等领域。

主要应用:

  • FRET(Forster共振能量转移)
  • Stern-Volmer猝灭
  • 稀土发光
  • 时间分辨和磷光各向异性
  • 分子互作,蛋白结构变化
  • 太阳能材料
  • 单线态氧测试
  • 光物理

技术参数:

  • 基于滤光片或单色仪实现波长选择
  • 皮秒超快集成化PPD光子检测模块(标配)
  • 可升级NIR检测器(~1700nm)
  • 综合分析受命拟合软件,开放数十种拟合功能
  • 标准液体样品架,加载温度传感器和搅拌装置
  • 大尺寸样品仓,配置高效UV级光学部件
  • F-Link即插即用型交互界面



主要特点:


  • 超宽寿命测试范围<25ps-1s 
  • 超快测试时间(低至1ms),实现动态反应分析
  • 超微量样品测试,低至1μL
  • 综合分析软件,5指数寿命拟合
  • 高稳定性设计,使用维护简单
  • 高度自动化,一键测量分析
  • 大尺寸样品仓设计,强劲的附件兼容能力
  • 高性能荧光、磷光寿命测试功能





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