HiperS-320i全焦面影像校正光栅单色仪/光栅光谱仪

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HiperS-320i全焦面影像校正光栅单色仪/光栅光谱仪

型号
北京卓立汉光仪器有限公司

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太阳能电池测试仪器(系统)、LED检测仪器(系统)、光谱仪、光谱测量系统、光量测仪器、电控精密位移台、手动精密位移台、光学调整架、光学平台、光学元件

北京卓立汉光仪器有限公司是一家集光学、精密机械、电子、计算机技术于一体的高科技企业。卓立汉光自1999年起,通过十年的不断努力,成长为光电仪器厂商。目前公司的电控位移台、手动位移台、光学调整架等产品已经形成产品系列化,规格多元化,国内多家科研单位、激光加工设备厂商、光纤设备厂商在使用我们的产品。2000年推出国内*套量产型三光栅光谱仪后,不断推出了多套荧光、拉曼、光电探测器光谱响应、太阳能电池检测等光谱测量系统,广泛应用在众多高校和科研院所的研究与试验,为国家科技创新贡献了一份力量,产品凭借优良的品质远销欧美、东南亚等海外市场。 2005年10月在同行业中*通过ISO9001质量管理体系SGS认证。
         卓立汉光主要生产经营:光谱仪、光谱测量系统、光量测仪器、电控精密位移台、手动精密位移台、光学调整架、光学平台、光学元件等系列产品。
         我们诚心聆听用户的需要与批评,作为不断改进的动力,能让您满意卓立汉光的产品及服务,就是我们较大的成就。因此我们以卓立汉光的光机产品提供 “终身保固” 的承诺,来表达我们对产品的信心。我们坚持从设计、零件选型、制造、装配、检验、包装、运输、直到售后服务做好*质量保证,就是要让您 “付有所值”,以合理的价位得到优质的产品,这是我们对您选择卓立汉光真诚的回报。
        卓立汉光始终以满足用户需求为宗旨,分别于上海、 成都、 深圳设立分公司,为用户提供及时周到的销售与技术服务。“研发创新、快速反应、优质服务” 是我们的经营理念, 公司*重视优质高效、Z短时间为客户开发产品及提供技术支持。卓立汉光真诚的希望与国内外同仁携手合作,为推动我国光电产业迅猛发展做出贡献。
                   
             

详细信息

产品概述

 

卓立汉光开发的新一代全焦面影像校正光谱仪,采用全焦面非对称影像校正技术,极大程度的抑制多种光学像差,获得了理想的成像效果,从而提升了光谱仪的信号强度和分辨率水平。同时使光谱仪在宽波段范围内全焦面都拥有极小的像差,整个像面上都呈现出近乎的影像效果,大幅度拓展光谱分析的应用领域,可被用于空间分辨的实验,实现多通道实时探测,极大地提升光谱测试分析质量。
 

HiperS-320i全焦面影像校正光栅单色仪/光栅光谱仪功能及特点

  • 支持双入口、双出口的结构配置,自动切换入口/出口,增强光谱测试应用灵活性;
  • 全新设计的三光栅在轴旋转塔台方案,提升光栅的有效使用面积,在光谱仪使用范围内,极大地提升光栅通光效率的一致性;

光栅在轴旋转光栅利用率提高15%。(1200g/mm光栅,波长550nm位置)

  • 内置光谱分辨率增强技术模块,进一步提升光谱仪分辨率及影像质量;

启用分辨率增强模块,分辨率*大可进一步提升约20%。

  • 采用智能自动聚焦技术,多光栅切换使用时,使光谱仪处于分辨率*佳、影像*佳状态; 


自动调焦获取*佳焦平面

 

  • 消像差校正技术的运用,可获得更高的分辨率和对称性更好的峰形,提高了光子利用率,也可使波长信息更加**。

  • 采用非对称结构的全焦面影像校正技术,使光谱仪在宽波段范围内全焦面呈现出近乎的影像效果,获得了更好的空间分辨率和光谱分辨率。

注:9芯光纤束/100um芯径,成像面高度3.8mm

规格参数表(@1200g/mm光栅条件下)

 

型号

HiperS-320i

焦距(mm)

320

相对孔径

F/4.4

扫描范围(nm)

0~1430

光谱分辨率(nm)-PMT

0.06

光谱分辨率(nm)-CCD(15um)

0.12

倒线色散(nm/mm)

2.29

波长准确度(nm)

±0.2

波长重复性(nm)

±0.025

*小步距(nm)

0.005

杂散光水平

5×10-5

焦平面尺寸

29 (w) × 14 (h)

光轴高度(mm)

156.3~171.3

光栅规格

68 × 68

光栅台

三光栅在轴旋转塔台

狭缝规格

缝宽0.01-3mm连续手动可调,可选配自动狭缝;逢高2,4,14可更换

外形尺寸(mm)、重量(kg)

591 × 460 × 260 (L × W × H),30kg

通讯接口

标配USB2.0,可选RS-232

 

规格参数表@不同光栅

光栅(g/mm)

2400

1800

1200

600

300

150

倒线色散(nm/mm)

0.91

1.39

2.29

4.87

9.97

20.13

机械扫描范围(nm)

0~715

0~953

0~1430

0~2860

0~4290

0~11440

扫描步距(nm)

0.0025

0.0035

0.005

0.01

0.02

0.04

狭缝光谱分辨率(nm)

0.03

0.04

0.06

0.12

0.24

0.48

光谱分辨率(nm)-CCD(15um)

0.048

0.073

0.12

0.256

0.523

1.06

CCD单次摄谱范围(nm@30mm CCD)

26.4

40.3

66.4

141.2

289.1

583.8

波长准确度(nm)

±0.1

±0.15

±0.2

±0.4

±0.8

±1.6

波长重复性(nm)

0.015

0.02

0.025

0.05

0.1

0.4

注1:狭缝光谱分辨率,常规光谱仪在中心波长435.83nm,狭缝宽度10um;

注2:CCD单次摄谱范围、倒线色散为中心波长为435.83nm下的典型值,随着中心波长增加,摄谱范围变窄;

注3:随着中心波长的增大,倒线色散数值减小,随着中心波长减小,倒线色散数值增大;

注4:直入狭缝无法配置电动狭缝。

典型型号表

型号

描述

HiperS-3204i

侧入口、CCD双出口

HiperS-3205i

侧入口、狭缝直出口

HiperS-3206i

侧入口、CCD直出口

HiperS-3207i

侧入口、狭缝双出口

HiperS-3208i

侧入口、CCD直出口、狭缝侧出口

HiperS-3224i

双入口、CCD双出口

HiperS-3227i

双入口、狭缝双出口

HiperS-3228i

双入口、CCD直出口、狭缝侧出口

HiperS-3247i

侧入口、狭缝双出口、紫外镀膜

HiperS-3248i

侧入口、CCD直出口、狭缝侧出口、紫外镀膜

注1:本型号系列,为手动狭缝(电动狭缝需要额外选择)

注2:本型号系列,需要额外选配光栅,*多可配置3块光栅;

注3:本型号系列,不包含滤光片轮、快门,需要额外选择附件

光谱仪HiperS-3208i外形尺寸图:

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