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KM-PCT-35 PCT高压蒸煮老化试验箱
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英文名称:High Pressure Cooking Testing Chamber
产品别名:PCT加速老化试验箱,高压蒸煮试验箱、高温高压高湿试验箱、PCT、高压蒸煮测试箱、PCT老化箱、饱和高压老化箱、饱和高度加速寿命老化箱等可靠性试验设备。
产品用途:
适用于IC 封装,半导体,微电子芯片,磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、饱和湿热、等加速寿命信赖性试验。
应用领域:
IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品。
产品特点:
1.行业应用的流体仿真设计技术与产品工艺制造技术,产品更节能。
2.内胆采用双层圆弧设计,可以防止试验结露滴水现象,从而避免产品在试验过程中受过热蒸汽直接冲击影响试验结果。
3.全自动补水功能,前置式水位确认。
产品参数:
产品实拍