ST-FBSOA_X 晶体管正向偏置安全工作区测试系统
- 型号
- ST-FBSOA_X
- 参数
- 产地:国产
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陕西天士立科技有限公司，主要从事半导体检测设备的开发、制造、销售。致力于满足半导体领域从材料（硅Si碳化硅SiC氮化镓GaN）、晶圆、器件、部件、整机的电学特性测试、可靠性测试、老化试验、环境试验、力学试验、参数化脉冲ns/ps电源、半导体EDA仿真软件、智慧工厂、碳化硅陶瓷材料、第三方检测实验室的全产业链服务和国产化替代。
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详细信息
IGBT/MOS正向偏置安全工作区测试系统ST-FBSOA_X
陕西天士立科技有限公司/ST-FBSOA/IGBT/MOS正向偏置安全工作区测试系统，可以测试Si,SiC,GaN,材料的器件级和模块级的IGBT,MOSFET的FBSOA（正向偏置安全工作区）。安全工作区设备包括“正向偏置安全工作区FBSOA”“反向偏置安全工作区RBSOA”“短路安全工作区SCSOA”
陕西天士立科技有限公司
专注半导体检测·电学检测·可靠性检测·老化实验
基础信息
Si,SiC,GaN,材料的器件级和模块级的IGBT,MOSFET的FBSOA（正向偏置安全工作区）测试
IGBT/MOS正向偏置安全工作区测试系统测试FBSOA和对应的IV曲线
ICE电流0~1000A
VCE电压0~100V
VGE驱动电压0~30V
VMNF热敏电压≤5V
Pmax功率100KW
脉宽10us~10ms
柜式结构，气动安全（支持手动式）工装柜，计算机程控
陕西天士立科技有限公司
专注半导体检测·电学检测·可靠性检测·老化实验
IGBT/MOS正向偏置安全工作区测试系统ST-FBSOA_X
FBSOA定义
该图是简版FBSOA曲线，划定了四条电压-电流关系的边界线，分别是AB段，BC段，CD段，DE段。IGBT/MOS正向偏置安全工作区测试系统。
AB段规定了处于饱和导通状态下IGBT的zd工作电流，这个电流与IGBT的门极驱动电压幅值相关，从图看出，IGBT门极驱动电压幅值越高，饱和导通状态下的zd工作电流越大
BC段是IGBTmax可重复电流ICpuls，是4倍标称电流
CD段需结合IGBT瞬态热阻看。IGBT有线性区和饱和区
跨AB段后，其IGBT处于线性区了，也就退出饱和导通区， IGBT损耗急剧上升。所以，这条边界体现IGBT能承受zd耗散功率Ptot。且CE电压越高，IGBT所能承电流脉冲幅值越低。另外，电流脉宽越大，IGBT所能承受电流幅值也越低
蓝色CD段各种脉冲宽度下的SOA，均是单脉冲安全工作区，非连续工作情况下的工作区，所以，必须参考上一页的右下角的IGBT瞬态热阻曲线，由公式（1）计算出在规定VCE条件下允许的电流IC的幅值和脉宽
DE段规定了IGBT集射极CE击穿电压，IGBTCE击穿电压是和结温正相关，结温越低，CE击穿电压也越低。IGBT/MOS正向偏置安全工作区测试系统。
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专注半导体检测·电学检测·可靠性检测·老化实验
IGBT/MOS正向偏置安全工作区测试系统ST-FBSOA_X
产品特点
测试规范：IEC60747-9、IEC60747-2、GB/T29332、GB/T4023
测试工装有“手动式”“气动式”“电子开关式”供选择，不同封装外观，更换“DUT适配器”即可
高温测试，支持室温~200℃，±1℃@0.5℃
计算机程控，测试数据可存储为Excel、PDF。内置多种通用文档模板供用户选择，还可自定义
安全稳定（PLC对设备的工作状态进行全程实时监控并与硬件进行互锁）设备具有安全工作保护功能
智能化，计算机进行操控及数据编辑，测试结果自动保存及上传特定局域网，支持MES系统和扫码枪连接
安全性，防爆，防触电，短路保护等多重保护措施，可以操作人员、设备、数据及样品安全
电压源电流源模块化设计，根据需求，自选搭配。IGBT/MOS正向偏置安全工作区测试系统。
陕西天士立科技有限公司/ST-FBSOA/IGBT/MOS正向偏置安全工作区测试系统，可以测试Si,SiC,GaN,材料的器件级和模块级的IGBT,MOSFET的FBSOA（正向偏置安全工作区）。安全工作区设备包括“正向偏置安全工作区FBSOA”“反向偏置安全工作区RBSOA”“短路安全工作区SCSOA”
