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CMI563 牛津仪器CMI563手持式型孔表面铜测厚仪
- 型号
- CMI563
安柏来科学仪器（上海）有限公司 成立于上海，在苏州、深圳、成都设有销售及服务点。
业务涉及
仪器设备事业：科学仪器、检测工具、实验室设备、工业自动化；
材料事业：工业材料、实验室耗材
实验室及生产线集成事业：QA/QC实验室整体方案、电镀代加工、电镀废水中贵金属回收再利用。
有能力为客户提供：售前应用评估及测试、售后技术支持、设备维护保养及校验、标准样品及零部件供应、标准样品再认证（ISO17025）、备用设备租赁。
产品包括但不局限于：X射线荧光（XRF）、电子显微镜、能谱仪、白光干涉膜厚测量、磁感应及涡流、超声、原子吸收（AAS）、原子力显微镜（AFM）、实验室模拟系统、三座标、二次元、自动色差测量平台……满足客户的QA/QC及R&D测试需求。
代理的品牌来自德国、英国、美国、日本，包括：Applied Spectroscopy、Amtec、Bruker、ColorPartner、Hydac、Oxford、K Alpha、SII 等……
不断完善的产品解决方案、专业的技术眼光、高效率的运营、客户为先的理念，我们追求与客户*稳定的配合、致力于成为客户的技术采购合作伙伴。
详细信息
CMI563
表面铜厚测量仪
CMI563采用微电阻测试技术，提供了精确测试表面铜铜厚（包括覆铜板、化学铜和电镀铜板）的方法。
由于采用了目前市场上zui为*的测试技术，无论绝缘板层多厚，印刷电路板背面铜层不会对精确可信的
测量结果产生影响。
创新性的CMI563铜箔测厚仪配置探针可由用户自行更换的SRP-4探头。相对于整个探头的更换，更换探针更为方便和经济。CMI563可由用户选择所测试的铜箔类型，即化学铜或电镀铜；甚至无需用户校准，即可测量线形铜箔度。NIST（美国标准和技术学会）认证的校验用标准片有不同厚度可供选择。高品质的CMI563更可享受优质的保修期服务和牛津仪器客户服务体系的全力支持。
整套仪器由一台多功能手持式测厚仪（配有保护套）、测量探头和NIST（美国标准和技术学会）认证的校验用标准片组成。采用微电阻技术的SRP-4探头是牛津仪器公司的产品，耗损的探针能在现场迅速、简便地更换，将停机时间缩至zui短。更换探针模块远比更换整个探头经济。
