一﹑设备特点:

1.采用美国原装电致冷高性能Si-PIN探测器，分辨率高，探测范围宽,涵盖RoHS、卤素、镀层、合金(含贵金属)及各种常规材料分析的基本要求。

2. 配置国际的DPP数字多道信号集成处理器，比普通模拟多道信号处理器性能更佳，尤其在高计数率时有更好的分辨力(如Hg和Cl等)，高达80MHz的数据传输速度使分析时间更短，测量重复性和长期稳定性更好。

3. 内置高清摄像系统，清晰观察样品，准确定位样品测试区域。

4. 配套的FP测量软件，集成多种谱图处理算法和基体校正算法，有效降低仪器测量中的各种干扰谱峰，使低含量和痕量元素的检测结果

*元素分析范围:硫（S）-铀（U）任意元素,可分析不锈钢、铜合金、锌合金、锡铅合金、贵金属分析等。定量测试ROHS和卤素中的 铅（Pb）、汞（Hg）、镉（Cd）、铬(Cr)、多溴联苯（PBB）和多溴联苯醚（PBDE）中的总溴,卤素中的溴(Br)、氯（Cl）。可以分析最多5层镀层，一次可分析元素多达24种

*技术参数:

检出下限：Pb /Cd/Cr/Hg/Br/Cl≦2ppm

测试样品时间：50－300秒可调

测试含量范围：1ppm－99.99%

分析测量动态范围宽，可从0.005μm到50μm

样品形状：任意大小，任意不规则形状

样品类型：塑胶/金属/薄膜/粉末/液体

X射线管：管电压/0～50 kV 管电流/1～1000 μA，功率: 50 W，灯丝电压: 2.0V，灯丝电流: 1.7 A，射线取出角：12°靶材：钨靶，铍窗厚度：400um，超温超载保护，不工作时自动进入待机状态延长使用寿命。

照射直径：准直器8mm/2mm/1mm /0.5mm

探测器：美国Amptek Si-PIN高灵敏度探测器，分辨率：149±5eV。

美国Spellman高压电源：输入电压: DC +24V±10%，输入电流：4.25A（），输出电压: 0 -50KV & 1mA ，功率：50W，电压调整率：0.01% （从空载到满载）电流调整率：0.01% （从空载到满载），纹波电压：输出额定电压前提条件下，纹波电压的峰值为输出电压的0.25%，8小时稳定性：≤0.05%。

散热系统：

机身前后有多个散热孔散热，机身内有3个风扇进行风冷，X光管进行涂层高温降热树脂后散热片包裹，再有1个风扇对其吹风散热。

防辐射系统：

软硬结合的防辐射设计，三重处理：X光管的特殊辐射处理、样品盖的双层铅皮包裹、软件的辐射预警（仪器工作中人员误操作开启样品腔时仪器会自动全部断电关机，保证操作人员安全），取得国家规定的辐射安全许可证，辐射剂量低于国家标准。

滤光片：八种新型滤光片自动选择设定

样品监测系统：

30倍1500万像素彩色CCD摄像机，在软件测试界面可实时观察样品状态和放置样品测试前微动调整样品位置，样品测试完成后图样清楚呈现在测试报告中。

软件系统：

定量分析计算，运用理论Alpha系数法(NBS-GSC法) 、集成FP、法经验系数法，针对RoHS无卤元素（Pb，Cd，Hg，Br，Cr，Cl）的精准测试。多种语言操作界面，操作简单，一键式设计，可生成各种人性化定制报告，能够自动输出PDF,EXCEL等报告格式。

额定功率：0.35kW

重量：50Kg

外形尺寸：650(W)×450(D)×450(H)mm

样品腔尺寸：350(W)×300(D)×150(H)mm，大样品盖可进行开盖敞开测试。

*标准配置

Amptek Si-PIN探测器一套：

钨靶特殊防辐射处理侧窗型X射线管一支

美国Spellman高压电源一支

全封闭铅板双样品腔

高精密CCD摄像机一个

Alpha系数法(NBS-GSC法)、集成FP、法经验系数法软件一套

样品盒一个，测试用样品杯1个，测试用塑胶薄膜一卷

欧盟PE#标样一片、银校正标样一片

仪器用电脑一套、打印机一台