TranSpec Lite 白光干涉膜厚仪

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TranSpec Lite TranSpec Lite 白光干涉膜厚仪

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TranSpec Lite

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非接触式3D轮廓仪,白光干涉膜厚仪,XRF镀层测厚仪,表面铜厚和孔内铜厚测量仪,手持式XRF光谱仪

安柏来科学仪器(上海)有限公司 成立于上海,在苏州、深圳、成都设有销售及服务点。

业务涉及
仪器设备事业:科学仪器、检测工具、实验室设备、工业自动化;
材料事业:工业材料、实验室耗材
实验室及生产线集成事业:QA/QC实验室整体方案、电镀代加工、电镀废水中贵金属回收再利用。

有能力为客户提供:售前应用评估及测试、售后技术支持、设备维护保养及校验、标准样品及零部件供应、标准样品再认证(ISO17025)、备用设备租赁。

产品包括但不局限于:X射线荧光(XRF)、电子显微镜、能谱仪、白光干涉膜厚测量、磁感应及涡流、超声、原子吸收(AAS)、原子力显微镜(AFM)、实验室模拟系统、三座标、二次元、自动色差测量平台……满足客户的QA/QC及R&D测试需求。

代理的品牌来自德国、英国、美国、日本,包括:Applied Spectroscopy、Amtec、Bruker、ColorPartner、Hydac、Oxford、K Alpha、SII 等……

不断完善的产品解决方案、专业的技术眼光、高效率的运营、客户为先的理念,我们追求与客户*稳定的配合、致力于成为客户的技术采购合作伙伴。
 

详细信息

产品描述:

  • 光学方法,非接触、无损测量,安全*。
  • 快速膜厚分析,只需几毫秒即可获得测量结果
  • 膜厚测量范围 0.1 - 150 微米 ( 0.004 to 6 mil )
  • *的分析准确度,在整个厚度测量范围内偏差小于0.005微米
  • 可同时分析计算两层膜厚
  • 可同时支持实验室离线分析或者在线生产分析 

 

应用领域:

用于主要的汽车灯以及CD生产商等行业进行有机膜厚测试。

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