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半导体芯片HAST测试
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成都中冷低温科技有限公司总部位于中国成都，是一家专注于泛半导体温度环境解决方案的创新型高科技公司，
专精特新企业、科技型企业、欧盟CE认证企业、ISO9001国际质量管理体系认证企业、知识产权贯标认证企业。
中冷低温主要生产高低温冲击气流仪（ThermoTST热流仪）、接触式冷热冲击机（ATC/TCU）、高低温卡盘（ThermoChuck）、高低温测试台、高压加速老化试验机（PCT）、
非饱和高压加速老化试验机（HAST） 、环境应力筛选系统、高低温循环箱、高低温冲击箱、气体制冷机、气体温控器、超低温制冷机。
为晶圆、芯片、5G通讯、光模块、集成电路、航空航天、天文探测、电池包、氢能源等领域的可靠性测试提供整套温度环境解决方案和测试服务。
中冷低温设备已出口欧盟、泰国、越南、新加坡、马来西亚等。
在天津、上海、苏州、深圳、武汉、重庆、西安设有办事处。
详细信息
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半导体芯片HAST测试
HAST高加速寿命试验箱是主要用于评估在湿度环境下产品或者材料的可靠性，是通过在高度受控的压力容器内设定和创建温度、湿度:压力的各种条件来完成的，这些条件加速了水分穿透外部保护性塑料包装并将这些应力条件施加到材料本体或者产品内部。相对于传统的高温高湿测试，HAST增加了容器内的压力，使得可以实现超过100℃条件下的温湿度控制，能够加速温湿度的老化效果。
半导体芯片HAST测试
用于评估非气密性封装IC器件、金属材料等在湿度环境下的可靠性。该试验检查芯片长期贮存条件下，高温和时间对器件的影响。本设备适用于量产芯片验证测试阶段的HAST测试需求，仅针对非密封封装(塑料封装)，带偏置(bHAST)和不带偏置(uHAST)的测试。
半导体芯片HAST测试
标准设计更安全，内胆圆弧设计防止结露滴水，符合国家安全容器规范
多重保护功能，两道高温保护装置、湿度用水断水保护、超压保护
稳定性更高:内置自研PID控制算法，确保温度、湿度以及压力值准确度
湿度自由选择:饱和与非饱和自由设定
智能化高:USB数据、曲线导出保存
