非接触法激光热膨胀仪

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Super LIX-R 非接触法激光热膨胀仪

型号
Super LIX-R

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分析仪、光谱仪
凯戈纳斯仪器商贸(上海)有限公司"的前身为"瑞典凯戈纳斯有限公司上海代表处,是由瑞典Hot Disk有限公司注资成立的。公司开发、制造并销售瑞典Hotdisk品牌热常数分析仪等世界的*分析仪器,同时是多家*仪器供应商在中国区的代理商,这包括日本Advance Riko公司的红外金面反射炉和ZEM系列塞贝克系数电阻测量系统,加拿大Thermtest公司的热流计和法导热系数仪,日本Ai-Phase公司的薄膜热扩散系数测试仪,日本AGUS公司的SPS放电等离子烧结炉及退火炉,以色列Nanonics公司的原子力显微镜AFM/扫描探针显微镜SPM以及原子力拉曼光谱电镜AFM+Raman+SEM/SPM联用系统,中国台湾佐信公司的MRIX显微拉曼光谱仪,瑞典SERSTECH公司的手持型拉曼光谱仪等。 竞争力 母公司HOTDISK在范围内拥有众多系统用户,并在英国、美国、德国、日本等二十个国家和地区设立了分支机构。 瑞典Hot Disk公司主要开发、制造并销售基于瞬变平面热源技术(TPS)的热导率、热扩散率和比热容的测试仪器;日本Advance Riko公司利用的技术优势开发了市场的红外金面反射炉和ZEM系列塞贝克系数电阻测试系统;日本Ai-Phase公司*研发了红外热波技术直接测量薄膜材料垂直方向热扩散系数的测试仪,弥补了现有市场对于薄膜材料热扩散系数研究的空白;日本AGUS公司通过多年为代工的丰富经验推出了自研发的高性价比SPS放电等离子烧结炉; 以色列NANONICS IMAGING LTD.是业界将近场光学显微镜(NSOM)技术和原子力显微镜(AFM)相技术相结合的*,NANONICS凭借着实力和品质,其产品涉足的领域从科研到工业,从生物学到半导体,从化学制品到无线电通讯,应用范围极其广泛。公司新近推出了材料表征连用技术,包括Nanonics系列电镜(AFM、SPM)与拉曼光谱仪和扫描电镜SEM的组合一体机,多探针近场光学扫描显微镜,具有很高的性价比和竞争力;中国台湾佐信公司自研发了兼具台式显微镜拉曼和便携式拉曼光谱优势的MRIX系列显微拉曼光谱仪,利用直射式激光照明模块克服了便携式拉曼光谱光路易偏离难调节的缺点,利用模块话的光路设计克服了台式显微镜无法轻易移动的缺点;瑞典SERSTECH公司研发的手持型拉曼光谱仪将复杂的显微拉曼技术简易化,在无需样品复杂处理并且不会破坏样品的前提下完成数秒钟内任何化学物质的鉴识,广泛的应用于,药品,麻醉药品,危险化学品等测试领域,提成本效益的拉曼测试方案。 技术保障&售后服务 凯戈纳斯仪器商贸(上海)有限公司的销售工程师兼具安装调试和售后服务的能力,确保您在设备前期调研即可获取专业的技术方案,并提供在设备后期使用时的一条龙技术服务。位于上海虹口区的办公司配备了Hotdisk公司的TPS3500型号热常数分析仪及中国台湾佐信公司的MRIX显微拉曼光谱仪样机,随时提供客户免费的调研检测服务,期待您的咨询及合作!

详细信息

详情介绍:

  热膨胀仪主要分为光干涉法膨胀仪和机械热膨胀仪,光干涉法为光学非接触、**测量、测量准确度高。但造价昂贵、仪器结构及操作都很复杂。机械式法热膨胀仪的优点是,使用容易、结构简单适用各种形状的样品等。缺点是,机械式式热膨胀仪受样品架、检测杆等夹杂物的影响,因此无法避免这些夹杂物对校准用标准样品的**精度和误差的影响。

Super LIX-R非接触法激光热膨胀系统概述

Super LIX-R非接触法激光热膨胀仪系统是采用线性偏转氦氖激光器的双光路型迈克尔逊干涉仪的高灵敏度非接触式热膨胀仪。这种高精度膨胀仪是基于激光波长对与样品两端接触的反射面之间的位移进行**热膨胀测量。

该测定方法符合JIS(JIS R3251-1995)的低膨胀玻璃的热膨胀系数测定方法,适合于用于热膨胀系数低至5ppb/℃(即 5 x 10-9/K)级别零膨胀材料的测量,通过对实际样品测试结果分析:在30℃时三次测得的  热膨胀系数分别为:5 x 10-9/K,4 x 10-9/K,4 x 10-9/K,在10℃,20℃,30℃,40℃,50℃的重复性均优于5 x 10-9/K。(详见P36-41

特点:

1)通过在系统内部加入抗振机构,可以防止振动干扰的影响,可以在稳定使用的环境下进行一般分析电子天平(分辨率0.01mg)的测量。(**申请2016-058190058191058192

2)根据激光波长(632.8nm)测量样品的位移。光学元件的优化消除了杂散光,提高了边缘信号的信噪比。特殊位移校准无需测量或操作。

3)图像传感器检测干涉条纹,对图像进行处理,计算膨胀率。

4) 通过用绝缘结构的低温恒温器控制样品和样品周围区域的温度,可以将温度控制在每分钟 0.01°C

5) 自动样品设置夹具可实现稳定的样品设置,无需操作员经过特殊培训。

夹具的样品设置是手动的。


Super LIX-R 参数:

温度测量范围:0~50℃ (采用高精度恒温循环系统)

热膨胀检测系统:迈克尔逊型激光干涉仪

光路:双光路

样品尺寸:Φ5mm 或Φ5±0.5mm x 长度12-20mm

      标准样品尺寸:φ5mm x 长度20mm

 两端应进行 SR(球形)处理,以免顶端变得不均匀。

    表面平均粗糙度:平均粗糙度优于0.8a

测量精度:CTE 5x10-9/K 或更低(基于标准尺寸的低膨胀材料)

重复性:CTE 5x10-9/K 或更低(基于标准尺寸的低膨胀材料)

分辨率:0.2nm

显示:图形强度

激光器:激光类型:He-Ne 气体激光器(连续振荡)

     功率:5mW  (IEC 60825-1 class 3B)

     光源波长:632.8nm

热电偶:PT-100 铂热电偶 JIS C 1604-1997

测试气氛:低压He100Pa

升降温速率:0.01℃/min ~ 1.5℃/min

                        高精度测试推荐使用0.1℃/min

温度显示分辨率:0.001℃

测温精度:精度符合 JIS-Class A (±0.15°C at 0 °C)

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