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多晶硅少子寿命测试仪
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深圳市汇中测控设备有限公司前身为汇中试验仪器制造厂，于2005年成立于广东中山，简称"汇中仪器”。是集科研、制造、代理、销售咨询服务为一体的仪器服务公司，专业研制、销售符合IEC、EN、UL、 VDE、GB、 ISO、ASTM等标准的试验仪器。同时承接专业检测机构、生产厂家实验室配套服务及国内外品牌仪器代理。深圳市汇中测控设备有限公司秉承“诚信、专业、共赢”的经营理念,坚持用户至上、一，以品质征服客户，以服务感动客户。坚持以技术为核心、不断创新、不断超越，已成功研发两百多种产品并销往各地实验室，均获得!汇中仪器奉行“进取创新求实严谨团结”的方针，以技术为核心、视质量为生命，严格按照”精I细作”标准生产。公司已获得ISO9001: 2000质量体系的认证，ISO14001:2004环境 管理体系认证，坚决为用户打造安全、环保的检测设备。产品与服务:家用电器类(IEC60335/GB4706)电器附件类(IEC60884/GB2099)小安规类(IEC61032/GB16842)照明灯具类(IEC60598/GB7000)外壳防护类(IEC60529/GB4208)影像IT类(IEC60065/IEC60950)电线电缆类(GB2951/GB12706)电池设备类(IEC60086/QC743)玩具轻工类等等....您的满意就是我们的追求!欢迎各实验室、用户和消费者和我们联系，我们有信心用产品，服务，竭诚为您服务!
详细信息
HZ-L22多晶硅少子寿命测试仪、少子寿命测试仪、少子寿命测试仪价格、单晶多少子寿命测试仪
| 一、多金硅少子寿命测试仪产品特点： | ||
| 1、可测量太阳能级多晶硅块、单晶硅棒少数载流子体寿命。表面无需抛光，直接对切割面或研磨面进行测量。 2、可测量太阳能级单晶及多晶硅片少数载流子的相对寿命，表面无需抛光、钝化。 3、液晶屏上直接显示少子寿命值，同时显示动态光电导衰退波形。 | ||
| 二、多金硅少子寿命测试仪技术参数： | ||
| 配置两种波长的红外光源 1、1.07μm波长红外光源，光穿透硅晶体深度较深≥500μm，有利于准确测量晶体少数载流子体寿命。 2、0.904～0.905μm波长红外脉冲激光器，光穿透硅晶体深度较浅≈30μm，但光强较强，有利于测量低阻太阳能级硅晶体。 三、多金硅少子寿命测试仪 测量范围： 1、研磨或切割面：电阻率≥0.5Ω·㎝的单晶硅棒、定向结晶多晶硅块少子体寿命，切割片的少子相对寿命。 2、抛光面：电阻率在0.1～0.01Ω·㎝范围内的硅单晶、锗单晶抛光片。 四、多金硅少子寿命测试仪寿命可测范围： 1、分体式：2μS—10ms 2、一体式：0.5μS—20ms | ||
