CMI900系列X射线荧光镀层测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器，可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域，为产品质量控制提供准确、快速的分析。

行业

用于电子元器件，半导体，PCB，LED支架，五金电镀，连接器等……多个行业表面镀层厚度的测量。

CMI900系列X射线荧光镀层测厚仪专业生产厂家优势：

杰出的*稳定性： 

·自动热补偿测量仪器温度，纠正变化，提供稳定的结果

·简单快速的光谱校准，定期检查仪器性能（如灵敏度），并提供必要的纠正

坚固耐用的设计

·可以在实验室或生产线上操作

·坚固的工业设计 

·经行业验证的技术，在销售量超过3000台

有效调整生产过程，从而提高生产力

·确保元件可靠性

·优化质量控制，从而确保产品生命周期

·测量焊料合金成份和镀层厚度

·分析导电性镀层金和钯的厚度

·测量电脑硬盘上的NiP层厚度

电镀处理的成本zui小化，产量zui大化

·快速简单的分析

·同时进行单层或多层镀层厚度测量及成份分析

·zui多可分析4层（不包括基层）

·镀液成份分析

珠宝及其他合金的快速无损分析

·贵金属合金分析

·黄金纯度分析

·材料鉴定

CMI900系列X射线荧光镀层测厚仪专业生产厂家样品种类：                          

镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)

可检测元素范围：Ti22 – U92

可同时测定5层/15种元素/共存元素校正

贵金属检测，如Au karat评价

材料和合金元素分析，
材料鉴别和分类检测
液体样品分析，如镀液中的金属元素含量
多达4个样品的光谱同时显示和比较
元素光谱定性分析

CMI900系列X射线荧光镀层测厚仪专业生产厂家使用方法：

  仪器装上电池后，按下“ON/OFF”按键开机，等蜂鸣声响后，液晶显示屏上显示"0"时，仪器自动进入测量状态，直接将测头垂直并快速紧压到工件表面的涂镀层上，仪器通过测头自动测量出涂层厚度，并通过显示屏把厚度值显示出来（注意：测量时注意测头保持垂直）

CMI900系列X射线荧光镀层测厚仪专业生产厂家功能技术参数：

  测试模式：仪器默认为连续（CONT INUE）测量模式，因为连续测试更能减少手误操作误差，这性能技术高于一般同行的涂层测厚仪水平，一般的涂层测厚仪只有单次测试模式，东儒DR系列测厚仪都可以调节连续测试和单次（SINGLE）测量方式。

 统计功能：一般涂层测厚仪需要手工操作记录数据，然后计算平均值等，东儒涂层测厚仪设置了自动求取zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、平均值（MEA）、测量次数（No）四个统计功能，更便捷，简单，方便。

 存储功能：这是区别于一般涂层测厚仪的分界线，DR260/270/280测厚仪可存贮800多个测量数据，连接电脑导出数据*保存，打印存档，留住辉煌成就，更具*性。

 测量范围：0-1250/3000μm（超过1250μm要提前告知厂家另行定制）

 使用环境：温度：0℃-50℃,湿度：20%RH—90%RH,无强磁场环境下使用

 分辨率：0.1μm /1μm（100μm以下为0.1μm,100μ以上为1μm）

 zui薄基体：0.4mm

 测量精度：±（1%-3%） 1.5μm

 外形尺寸：130mm*70mm*24mm

 电源：三节（7号）碱性电池

 重量：100g

 特点：小体积，重量轻，便携，现场测量，可以用于实验室内，电子数显，大液晶显示屏，背光，连续测试，统计功能等。

  全国联保，一年保修，终生维护，七天包换，损耗材价格实惠。