供应美国博曼台式X射线荧光(XRF)镀层测厚仪

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BA100 供应美国博曼台式X射线荧光(XRF)镀层测厚仪

型号
BA100

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深圳市鼎极天电子有限公司专注于的精密分析仪器,集研发生产、销售维护一体的企业。作为美国博曼(Bowman)仪器中国华南区总代理,我们全力将“博曼”打造为影响力的XRF测厚仪品牌。贯策“自主创新”理念,大力投入研发核心技术,在科技强国道路上砥砺前行,秉承 “诚信、专业、创新、共赢” 企业文化,历经二十余年的精细运营,公司打造了一支高素质的优秀团队,提供高品质产品和优质的服务。

详细信息

   供应美国博曼台式X射线荧光(XRF)镀层测厚仪智能的紧凑式设计使得分析各种各样的应用变得更方便,在合理的价格范围内显著提升您的镀层产品质量控制。

美国博曼(Bowman)BA100 台式X射线荧光(XRF)镀层测厚仪-为您提供高精度、快速简便的镀层厚度测量、元素分析,以及电镀液分析。 

美国博曼(Bowman)分析仪器即使在客户遇到zui严格的测试要求时也能够实现快速、方便、高效的XRF分析效果。

供应美国博曼台式X射线荧光(XRF)镀层测厚仪功能
   样品观察系统高分辨、彩色、实时CCD观察系统,标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。激光辅助光自动对焦功能可变焦距控制功能和固定焦距控制功能
   计算机系统配置IBM计算机:1.6G奔腾IV处理器,256M内存,1.44M软驱,40G硬盘,CD-ROM,鼠标,键盘,17寸彩显,56K调制解调器。惠普或爱普生彩色喷墨打印机。
   分析应用软件操作系统:Windows2000中文平台中文分析软件包:SmartLinkFP软件包

供应美国博曼台式X射线荧光(XRF)镀层测厚仪主要特点

性能与可操作性的*化 
紧凑式设计,改善效率和精度 
高分辨半导体固态探测器(Si-Pin),提高稳定性和灵敏度 
更短的预热时间,更长寿命的光管 
多种规格一次滤波器和准直器 
可变焦距适应复杂样品的测量需求 
模块化设计,方便维修、维护 

简单的设计、强大的分析能力 
快速、无损的分析 
成份分析zui多可达25种元素 
同时可zui多分析5层 
基于基本参数法的镀层和成份分析方法 
仅需一根USB线与电脑连接 
快捷的面板控制按钮 
占用空间小、轻量化设计 

直观的用户界面 
zui大的分析灵活性,减少用户出错机会 
基于Net framework框架的Xralizer软件 
直观的图标引导用户界面 
强大的定性、无标样分析功能 
功能强大的标准片库 
用于快速分析的可定制快捷键 
灵活的数据显示与导出 
强大的报告编辑生成

供应美国博曼台式X射线荧光(XRF)镀层测厚仪技术参数

项目名称

具体描述

X射线激发系统

·垂直下照式X射线光学系统

·50W(50kV,1.0mA)空冷式微聚焦型钨W靶X射线管

准直器系统

·单准直器组件;

·多准直器自动控制组件:zui多可同时装配6种规格的准直器

·园形、正方形、矩形和多种规格尺寸准直器任选(红色为常用的):

类型

单位

准直器规格

圆形

mil

4

6

8

12

13

20

mm

0.102

0.152

0.203

0.305

0.33

0.508

矩形

mil

1x2

2x2

0.5x10

1x10

2x10

4x16

mm

0.025x0.05

0.05x0.05

0.013x0.254

0.254x0.254

0.051x0.254

0.102x0.406

 

 

测量斑点尺寸

在12.7mm聚焦距离时,zui小测量斑点尺寸为:0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm<即1x2mil>准直器)

样品室

开槽式样品室,测量大型平板样品,如尺寸大于仪器宽度的线路板

样    品    台

  

固定样品台

·Z轴自动控制,移动行程:43mm (1.7"),XY轴手动控制

·zui大样品高度33mm

·仪器外形尺寸(宽×深×):407×770×305mm(16×30.3×12")

  

加深样品台

·Z轴自动控制,移动行程:43mm (1.7"),XY轴手动控制

·zui大样品高度160mm

·样品仓有4个位置卡槽,相邻卡槽垂直间距25.4mm,样品台支架可放置在不同位置的卡槽上,可测不同高度的样品

·样品仓内部尺寸(宽×深×:279×508×152mm(11×20×6

·仪器外形尺寸(宽×深×):407×770×400mm(16×30.3×15.7")

·自定义样品台:依据客户要求提供更高的样品台,满足高度>160mm的样品测量,仓内设置多个位置卡槽,相邻卡槽垂直间距25.4mm

  

自动样品台

·Z轴自动控制,移动行程:43mm(1.7")

·XY轴自动控制,样品台移动行程:178×178mm(7x7

·zui大样品高度33mm

·样品台尺寸(宽×深):610×560mm(24×22”

·仪器外形尺寸(宽×深×):610×1037×375mm(24×40.8×14.8")

·可提供对样品的自动和编程控制,多点测量

·鼠标控制样品台移动,精确地定位样品测量点

镭射聚焦

·镭射用于自动精确定位X射线光管/探测器与样品到测试距离

·单击鼠标,Z轴自动扫描

·Z轴自动聚焦到焦距12.7mm,同时将样品图像定焦(显示在屏幕上)

·避免了人为操作误差

样品观察系统

·高分辨率彩色CCD观察系统,标准光学放大倍数为30倍

·可选50倍和100倍观察系统

结果输出

·测量数据报告可直接打印或一键导出到PDF文件、Excel文件,为质量管理保留宝贵的原始资料

·测量数据报告可包含测量数据、测量样品图像、各种统计分析图表、自定义的报告模板(系统预置模板、含用户信息的自制模板)

计算机系统配置

·IBM计算机

·佳能彩色喷墨打印机

分析应用软件

·操作系统:Windows XP中文平台

·分析软件包:SmartLink FP软件包

系统安全性

·Z轴保护传感器

·安全防射线光闸

·样品室门开闭传感器

·X射线锁

·X射线警示灯

·紧急停止按钮

·前面板安全钮和后面板安全锁

·多用户密码保护,只向日常操作员设定有限的*,操作界面简单,功能受限

·主管人员可进行系统维护

·系统自动生成操作员的使用记录

·开启“自动锁定”功能可以防止未*人员使用;测量结束后,超过预设的时*,软件锁定并要求输入密码

测量自动化功能

鼠标激活测量模式:“Point and Shoot”

多点自动测量模式:随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、重复测量模式

测量位置预览功能

激光对焦和自动对焦功能

统计计算功能

平均值、标准偏差、相对标准偏差、zui大值、zui小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图

任选软件:统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书

数据分组、X-bar/R图表、直方图

数据库存储功能

 

 

 

 

 

如有任何需要请按以下联络我公司,我们将为你提供快速优质的服务。

 

 

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