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对中系统 EMG 位置传感器 SMI-HE/750/2400/1800/200
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经销商厦门元航机械设备有限公司坐落于美丽的海滨城市—厦门,是一家致力于海洋石油钻井平台,石油、天然气管道专业养护,船舶物资服务的供应商。我们与挪威,瑞典,丹麦,美国,德国及日本等诸多业界的公司有着长期良好的合作关系。一直致力于为航行船舶及海洋钻井平台提供优质的进口产品
我们公司目前合作的品牌主要有:
船用探测器类型: (GRAVINER MK6 MK7、日本大发 DAIHATSU 探测器速度开关、等油雾浓度探测器、Specs SPDH-V3C001-RO 浓度探头tyco 泰科、consilium 康士廉、Autronica、apollo 阿波罗、日本 OKI能美(NOHMI)、德国EGONHARIG、Y.E.I山本货仓、德国DURAG杜拉格、等火灾报警探头
船用真空马桶 :(EVAC 依凡克JETS 杰驰、瓦锡兰 WARTSILA.1HAMWORTHY真空马桶配件)
伺服阀: 德国 EMG 易安基、MO0G 穆格德国拜爵 Badger Meter
海水淡化: DANFOSS 丹佛斯 高压泵,柱塞泵、美国陶氏(DOW)、邦(DUPTONT)海水膜
美国威创 Viatran 传感器、Firetrol充电器 控制柜、德国FHF、EEV磁控管、JRC磁控管、伯纳德Bernard、ARIEL艾里尔、德国CLOOS 克鲁斯、德国斯塔尔 STAHL、奥莱尔 OLAER、AMETEK 阿美特克、美国IEC 滑环美国 BAND-IT 扎带枪 等进口品牌
EMG 位置传感器 SMI-HE/750/2400/1800/200
光电传感器是将光信号转换为电信号的一种器件。其工作原理基于光电效应。光电效应是指光照射在某些物质上时,物质的电子吸收光子的能量而发生了相应的电效应现象。根据光电效应现象的不同将光电效应分为三类:外光电效应、内光电效应及光生伏应。光电器件有光电管、光电倍增管、光敏电阻、光敏二极管、光敏三极管、光电池等。分析了光电器件的性能、特性曲线
传感器概述
光电式传感器是以光电器件作为转换元件的传感器。它可用于检测直接引起光量变化的非电物理量,如光强、光照度、辐射测温、气体成分分析等;也可用来检测能转换成光量变化的其他非电量,如零件直径、表面粗糙度、应变、位移、振动、速度、加速度,以及物体的形状、工作状态的识别等。光电式传感器具有非接触、响应快、性能可靠等特点,因此在工业自动化装置和机器人中获得广泛应用。新的光电器件不断涌现,特别是CCD图像传感器的诞生,为光电传感器的进一步应用开创了新的一页
EMG 位置传感器 SMI-HE/750/2400/1800/200
EMG光电传感器PLE2-500.02C
对中检测装置附件LIC 1375/01对中灯管控制器
LLs 1375
LLS875/03光源发射器
光源发射器 LIC1375/11
光学传感器,EVM2-CP/1810.71/L/R,1810mm,24VDC/0.6A,EMG
光学传感器,EVK2-CP/800.71/L/R,800mm,24VDC/0.6A,EMG
纠偏接收装置EVK2-CP/800.71/L/R
线性光源 LLS 675/02 24VDC/0.5A 品牌:EMG
起升开闭高速制动器推动器 EMG ED301/6
EMG LS13.01测量光电传感器
EVK2-CP/400.71/L/R EMG 传感器
EVM2 CP/750.71/L/R传感器 EMG
LS14.01 EMG 测量光电传感器
EMG光电式测量传感器 EVM2-CP/1850 71/L/R
EMG 高频报警光发射器 LIH2/30/230.01
EMG LID2-800.2C 对中光源发射器
EMG LID2-300.2C 对中光源发射器
EMG LLS 1075 线性光源发射器
EMG LLS 1075/01 线性光源发射器
CPC光源 LLS 675/11 Lichtband
EMG LLS 875/02 线性光源发射器
EMG LLS 675/01 线性光源发射器
EMG 线性光源发射器 LLS875/01
EMG对中光源发射器 LIE 1075/230/50
EMG LLS 475/01 线性光源发射器
EMG LIC1075/11光源发射器
由光通量对光电元件的作用原理不同所制成的光学测控系统是多种多样的,按光电元件(光学测控系统)输出量性质可分二类,即模拟式光电传感器和脉冲(开关)式光电传感器。模拟式光电传感器是将被测量转换成连续变化的光电流,它与被测量间呈单值关系.模拟式光电传感器按被测量(检测目标物体)方法可分为透射(吸收)式,漫反射式,遮光式(光束阻档)三大类。所谓透射式是指被测物体放在光路中,恒光源发出的光能量穿过被测物,部份被吸收后,透射光投射到光电元件上;所谓漫反射式是指恒光源发出的光投射到被测物上,再从被测物体表面反射后投射到光电元件上;所谓遮光式是指当光源发出的光通量经被测物光遮其中一部份,使投射到光电元件上的光通量改变,改变的程度与被测物体在光路位置有关