半导体高低温试验箱
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参考价:¥1880058000/台

DR-H201-20D 半导体高低温试验箱

型号
DR-H201-20D
参数
产地:国产 工作式尺寸:50×60×50cm 降温时间:60℃/min 升温时间:3℃/min 是否防爆:常规型 外形尺寸:117×146×85cm 温度波动度:2℃ 温度范围:常规型,-40~150℃ 温度均匀度:0.5℃ 温度偏差:1℃ 制冷方式:压缩机制冷
广东德瑞检测设备有限公司

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恒温恒湿试验箱,冷热冲击试验箱,快速温变试验箱,氙灯老化试验箱,恒温恒湿试验房,淋雨试验箱,高速老化试验箱

德瑞检测源自中国台湾,成立于2005年,总部设于中国台湾省高雄市,专注于可靠性检测设备行业;2021年因集团战略布局诞生广东德瑞检测设备有限公司。

德瑞检测设备是一家集研发、设计、生产、销售于一体的模拟环境测试设备的高科技生产企业,大陆新总部及研发基地设立于制造之城广东省东莞市。

公司自成立以来,始终坚持以质量求生存、以诚信求发展、以管理求效益的经营理念,不断引进国内外技术、积累丰富的经验,所有产品的主要部件均采用欧、美、日及中国台湾等国家和地区的进口元器件,确保产品的品质与性能,优化产品设计,走绿色、低碳、环保的可持续发展道路,为实现企业自身的转型与升级而努力前进。

公司产品系列包括:恒温恒湿系列、步入式恒温恒湿房系列、冷热冲击系列、快速温变系列、高低温交变系列、老化房系列、高空低气压系列、氙灯耐气候系列、UV紫外线老化系列、砂尘试验系列、IP淋雨系列、盐雾试验系列、三综合试验箱系列、电池检测系列等等;软件开发、计量检测及维修咨询整包服务。产品广泛用于:科研单位、质检机构、大专院校、电子电器、新能源电池、汽车船舶、LED照明、电线电缆、航空航天、五金配件、橡胶塑料、金属、包装、建材等行业和领域;成为材料开发、特性试验、教学研究、品质管制、进料检验的得力助手。

生产的检测设备符合:GBGJBISOIEC、ASTMEN、JISTAPPI、ISTA、DINBS、CE、UL、BS、GMP、FDA等标准。



详细信息

半导体高低温试验箱规格参数:

型号                    

DR-H201-80                    

DR-H201-150                    

DR-H201-225                    

DR-H201-408                    

DR-H201-800                    

内箱尺寸W×H×D(cm)                    

40×50×40                    

50×60×50                    

50×75×60                    

60×85×80                    

100×100×80                    

外箱尺寸W×H×D(cm)约                    

110×136×71                    

117×146×85                    

117×166×91                    

140×176×101                    

170×186×111                    

内箱容积(L)                    

80                    

150                    

225                    

408                    

800                    

温度范围                    

A:-20℃~150℃  B: -40℃~150℃   C: -60℃~150℃   D: -70℃~150℃                    

湿度范围                    

20%~98%RH(10%~98%RH/5%~98%RH)                    

温湿度分布精度                    

2.0℃,3.0%RH                    

温湿度控制精度                    

±0.3℃;±2.5%RH                    

升温/降温时间                    

约3.0℃/分钟;约1.0℃/分钟                    

保温材质                    

耐高温高密度氯基甲酸乙醋泡沫绝缘体材料                    

冷却系统                    

气冷式/单段压缩机(-40℃)   气冷式/双段压缩机(-40℃~-70℃)                    

保护装置                    

无熔丝开关、(压缩机过载/冷媒高低压/超湿超温)保护开关、保险丝故障警告系统                    

配件                    

记录器(选购)、观视窗、50mm测试孔、PL箱内灯、隔板、干湿球纱布                    

电源                    

1φ 220V AC±10% 50/60Hz  /  3φ 380V AC±10% 50/60Hz                    





半导体高低温试验箱

半导体高低温试验箱

半导体高低温试验箱:严格遵循国际标准

符合国际标准的测试能力

高低温环境试验箱和高低温测试试验箱均严格遵循一系列国际和国内标准,确保测试结果的准确性和可靠性。这些标准包括但不限于:

GJB150.3 高温试验

GJB150.4 低温试验

GJB150.9 湿热试验

GB/T2423.22 温度变化试验

GB/T2423.3-93 湿热试验箱试验方法

GB/T2423.4-93 交变湿热试验方法

GB11158 高温试验箱技术条件

GB10589-89 低温试验箱技术条件

GB/T10586-89 湿热试验箱技术条件

GB/T2423.1-2001 低温试验箱试验方法

GB/T2423.2-2001 高温试验箱试验方法

高低温试验箱在电子产品测试中的重要性体现在以下几个方面:

  1. 确保产品可靠性:通过模拟恶劣的温度条件,高低温试验箱可以评估电子产品在高温或低温环境中的稳定性和可靠性,确保产品在实际使用中能够正常工作

  2. 质量控制:高低温试验箱是质量控制的重要组成部分,通过测试可以发现产品在设计、材料选择或制造过程中可能存在的潜在问题,从而及时进行改进,提高产品质量

  3. 环境适应性设计验证:在产品的研发阶段,高低温试验箱用于验证产品的环境适应性设计,确保产品能够在预期的环境条件下正常运行

  4. 符合行业标准:许多行业标准,如IEC 60068、MIL-STD-810G等,要求电子产品在上市前必须通过特定的高低温测试,以证明其符合标准要求

  5. 寿命预测和缺陷识别:通过高低温循环测试,可以预测产品的预期寿命,识别产品中的潜在问题和缺陷,从而进行质量改进

  6. 提升产品竞争力:在市场竞争激烈的环境下,通过高低温测试的产品能够提高其市场竞争力,因为这些产品已经被证明能够在各种环境下保持性能和可靠性

  7. 降低售后服务成本:通过高低温测试,可以减少产品因环境适应性问题导致的故障率,从而降低售后服务的成本

  8. 支持研发和创新:高低温试验箱为电子产品的研发提供了重要的测试支持,帮助研发人员了解产品在不同温度条件下的性能表现,从而推动产品的创新和改进



高低温试验箱的测试模式通常包括以下几种:

  1. 高温试验:模拟产品在高温环境下的适应性,测试产品在高温条件下的性能和稳定性。参考标准包括GB/T 2423.2、IEC 60068-2-2等

  2. 低温试验:模拟产品在低温环境下的适应性,测试产品在低温条件下的性能和稳定性。参考标准包括GB/T 2423.1、IEC 60068-2-1等

  3. 温度冲击试验:也称为温度循环试验或快速温变试验,模拟产品在温度急剧变化环境下的适应性。测试产品在高温和低温之间快速转换的耐受能力。参考标准包括IEC60068-2-14、GB2423.22等

  4. 湿热试验:模拟产品在高温高湿环境下的适应性,测试产品在湿热条件下的性能和稳定性。包括恒定湿热试验和交变湿热试验两种模式。

  5. 高低温交变试验:在高低温之间进行循环测试,模拟产品在温度变化环境下的适应性。这种模式可以一次性将需要做的高温、低温以及所需做的温度的时间设定在仪表参数内,试验箱会按照设定走程序

  6. 能效测试:评估高低温试验箱自身的能源效率,按照GB/T 33861-2017标准进行测试.


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产品参数

产地 国产
工作式尺寸 50×60×50cm
降温时间 60℃/min
升温时间 3℃/min
是否防爆 常规型
外形尺寸 117×146×85cm
温度波动度 2℃
温度范围 常规型,-40~150℃
温度均匀度 0.5℃
温度偏差 1℃
制冷方式 压缩机制冷
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