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英国输力强Modulab XM 微区电化学测试系统
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- 英国输力强Modulab XM
该企业相似产品
美国阿美特克集团公司主营产品：电化学工作站,多通道电化学工作站,进口电化学工作站,微区扫描电化学,电化学显微镜等电化学产品，是电子仪器和电子机械设备的制造商，年销售额超过50亿美元，员工超过14,000人，分布在美国及的120多个工厂，80多家销售和服务中心。Advanced Measurement Technology Inc.是美国阿美特克(Ametek)集团的子公司，旗下拥有PrincetonApplied Research(普林斯顿应用研究)，SolartronAnalytical（输力强分析），Signal Recovery等四个品牌。
普林斯顿应用研究（PAR，Princeton Applied Research）是一个历史悠久的电化学仪器品牌。它创建于1961年，由世界的普林斯顿大学和等离子物理实验室的一群科学家和商业人士联合组建，50多年来，在业内拥有*的品牌度。自1979年以EG&G旗下品牌进入中国以来，用户已经超过千人，专心倾注于电化学分析与合成、电催化、腐蚀应用与研究、化学电源、生物医药和传感器、材料研究等领域，提供好的的研究型宏观和微观电化学测试仪器。
输力强分析SolartronAnalytical 是阿美特克集团公司旗下另一个好的品牌。具有60多年设计和生产精密电子仪器的历史，是电化学及材料交流阻抗谱仪的专业生产厂商，已成为*准确性和可靠性的电化学和材料测试分析仪器市场的*。业内久负盛誉的产品有：频率响应分析仪，电池研究测试系统，材料阻抗测试仪。应用于物理与化学电源、超级电容器、电化学传感器、腐蚀与防护、电分析、电催化、电解电镀电合成等领域；在研究和检测材料（包括生物材料）的储存电荷（电容）和传递电荷（电导）等阻抗特性测试方面以其*的采样速度及频率分辨率、极小的测量误差以及多种阻抗测量技术成为市场上的。
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总部大厦（B10）二层西侧
AMETEK Inc.上海
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三路526号1幢二层A1区
详细信息
Modulab XM电化学综合测试系统的仪器简介：
ModuLab XM是模块化的电化学量测系统，其核心是一高速、高性能的恒电位/恒电流仪，能精准地进行控制和测量。有一系列模块供选购，以使电化学测试系统符合特殊应用所需，包括：燃料电池开发、电化学分析、纳米技术及腐蚀/涂层研究。各个选购模块进行各自独立的校正，因此增加模块到ModuLab系统就像“即插即用”般地简单!仪器的前面板可轻易取下，然后插入新的模块，而当仪器再次开机时，新的模块即可由软件快速侦测出来。
ModuLab XM系统不仅可以像“即插即用”般地以许多方式设定配置，而且可以由在一台仪器上从单通道升级为多通道。从一个机箱一台恒电位仪，到同一机箱搭配许多台恒电位仪，或多个机箱、每个机箱各有多台恒电位仪之扩充系统。多台恒电位仪可用一部PC作控制，或者多部PC整合到一个系统中，从而依需要控制全部恒电位仪群组。同时随时都可增加额外的恒电位仪及选购件到每个机箱内。
ModuLab XM系统运用了*的Over-Sampling采样信号处理技术，无论使用哪种组合，且即使是在>10KV/s的zui大的扫描速率之下操作，都能提供超平滑的循环伏安波形。该信号发生器性能可确保待测体系不受步进与暂态杂波所干扰，因为ModuLab XM的“平滑扫描”就是这个意思。所使用的DSP高精度数字技术能确保在整个扫描速度范围下可有精准的波形产生与分析，而无需改变操作模式或连接。
ModuLab XM系统的每项选件都经过精心的设计，以便与核心恒电位/恒电流仪及其它选件无间隙地结合，以扩大系统控制与测量之功能，给予研究人员毫无限制的测试平台。
ModuLab XM系统提供的软件既灵活、功能丰富，又容易使用。提供大量的实验类型可供选择，从标准的开路、循环伏安法测试到复杂的包括样品准备的多步骤顺序、高级别的实验技术及综合的阻抗分析…。
ModuLab XM软件运用在实验开发所有阶段的曲线图形，所以用户可确切知道要应用什么波形到电解池上。当参数被输入软件，将显示实验运行时应用到电解池的实时波形图及连接图，使用者可检查电解池是否正确连接，并在实验开始前作好调整。软件内的连接图增强了拓展性能，使系统组态能快速简便地再配置设定，以适应任何类型的测试。
软件允许自由选择数据采集模式，不管所选择的实验类型为何。例如，运行脉冲伏安实验，可选择高采样速率，如此可分析脉冲的实际形状（电压与电流），以便在脉冲上选择的测量点。
Modulab XM电化学综合测试系统的主要特点
?高性能“即插即用”模块，即可扩展功能又可扩展通道
?64MS/s平滑扫描-LSV、LSP、CV
?高达1MS/s数据采集-脉冲、CV
?100aA电流分辨率
?±25A电流-扫描/脉冲
?±100V槽压与极化
?10μΩ微阻抗测量
?＞100TΩ超高阻抗测量
?多种高速EIS技术
