DR-H201-D9 节能低温试验箱设备
- 型号
- DR-H201-D9
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德瑞检测源自中国台湾，成立于2005年，总部设于中国台湾省高雄市，专注于可靠性检测设备行业；2021年因集团战略布局诞生广东德瑞检测设备有限公司。
德瑞检测设备是一家集研发、设计、生产、销售于一体的模拟环境测试设备的高科技生产企业，大陆新总部及研发基地设立于制造之城广东省东莞市。
公司自成立以来，始终坚持“以质量求生存、以诚信求发展、以管理求效益”的经营理念，不断引进国内外技术、积累丰富的经验，所有产品的主要部件均采用欧、美、日及中国台湾等国家和地区的进口元器件，确保产品的品质与性能，优化产品设计，走绿色、低碳、环保的可持续发展道路，为实现企业自身的转型与升级而努力前进。
公司产品系列包括：恒温恒湿系列、步入式恒温恒湿房系列、冷热冲击系列、快速温变系列、高低温交变系列、老化房系列、高空低气压系列、氙灯耐气候系列、UV紫外线老化系列、砂尘试验系列、IP淋雨系列、盐雾试验系列、三综合试验箱系列、电池检测系列等等；软件开发、计量检测及维修咨询整包服务。产品广泛用于：科研单位、质检机构、大专院校、电子电器、新能源电池、汽车船舶、LED照明、电线电缆、航空航天、五金配件、橡胶塑料、金属、包装、建材等行业和领域；成为材料开发、特性试验、教学研究、品质管制、进料检验的得力助手。
生产的检测设备符合：GB、GJB、ISO、IEC、ASTM、EN、JIS、TAPPI、ISTA、DIN、BS、CE、UL、BS、GMP、FDA等标准。
详细信息
节能低温试验箱设备的适用范围和测试标准如下：
适用范围：
电工电子产品：适用于非散热的电工电子产品（包括元件、设备及其他产品）的低温试验。
电子零部件行业：在电子零部件行业中，用于测试集成电路、电阻、电容和半导体器件等在各种环境条件下的性能。
产品研发和质量控制：用于研发阶段的型式试验、零部件筛选试验，以及质量控制过程中的产品检测。
测试标准：
国家标准：GB/T 2423.1-2008《电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验A: 低温》。
国际标准：IEC 60068-2-1:2007，这是电工电子产品环境试验中关于低温试验的国际标准。
温度范围：根据GB2423标准，不同地区和应用场合下，低温测试的范围可设定为：-65℃、-55℃、-45℃、-40℃、-30℃、-25℃、-15℃、-10℃、-5℃、0℃、+5℃。
试验条件：温度：-55℃、-40℃、-25℃、-10℃ 或制造商与用户商定的其他温度点。试验时间：制造商与用户商定，但不应少于产品在该温度下达到温度稳定状态所需的时间。
试验步骤：包括预处理、初始检测、低温试验、恢复和最终检测等步骤。
试验结果评定：根据产品的性能指标和试验要求，对低温试验结果进行评定。如果产品在低温环境下的性能变化在允许范围内，则认为产品通过了低温试验；如果产品在低温环境下出现性能故障或损坏，则认为产品未通过低温试验。
试样放置：试样与试样、试样与冷冻箱内胆之间应留有一定间隙，以保证冷气流动，降温均匀。
易失水分物品：对于试验温度较高物体和易失水分的物体，应使用密封较好的食品袋或保鲜纸包好放入，以防水分跑出，在工作室内结霜，影响制冷。
易燃易爆物品：严禁在冷冻箱内存放挥发性、燃烧性的气体、液体，如汽油、酒精等物品。
试样数量：一次放入的试样不能过多，否则会使压缩机长时间不停机，而且箱内温度下降缓慢，反而达不到要求。
工作完毕后处理：工作完毕后，切断电源，取出已冷冻样品，打开冷冻箱门让其自然升温，化霜层融化，将水放出用软布吸干擦净。
设备使用范围：本设备仅适合高温+150℃，低温-40℃范围内的产品试验。
禁止危险物质试验：禁止易爆、易燃及高腐蚀物质的试验。
箱门开启：本机工作于0℃以下时，应避免打开箱门，否则造成箱内蒸发器等部位产生结霜结冰，降低本机使用效率。
非必要不开门：试验中，除非绝对必要切勿打开箱盖，否则可能会引起人身伤害、系统误动作，可能会导致系统PID误解，触发超温保护。
电源及接地：试验箱在安装时箱体外壳必须接地，如果试验箱没有接地，一旦漏电则会非常危险。
电源线径：电源进线线径必须等于大于要求线径，否则设备在运行过程中负载严重，很容易引起负载烧坏。
超温保护器检查：需要定期检查电路断路器和超温保护器，以提供本机测试品以及操作者的安全保护。
照明灯使用：照明灯除必要时打开外，其余时间应关闭。
工作室干燥：在做低温前，应将工作室擦干。
试样均匀放置：所有试样应均匀放置，试验的放置应保证工作室有效空间内。
通讯接口连接：在插、拔试验箱与计算机的通讯接口连接线时，必须先关闭计算机电源，决不允许带电插拔。
电源关闭：试验工作结束，不用试验箱时，务必关闭总电源开关。
准备阶段：
确保测试样品处于断电状态。
将测试设备预热至适当的初始状态，以便进行低温测试。
低温测试：
将样品放入低温箱，设定温度至-50℃，并保持4小时。请务必在样品断电的状态下进行，以避免因芯片自发热影响测试结果。
低温保持期间，定期监测温度，确保温度均匀分布。
性能测试：
经过低温处理后，重新通电，并进行性能测试。测试主要包括电气特性、功能性以及其他相关参数，与常温下的性能进行对比。
老化测试：
在性能测试完成后，进行老化测试，观察是否存在数据对比错误或其他异常现象。
高温测试：
将样品升温至+90℃，保持4小时。升温过程中，样品应不断电，以确保内部温度维持在高温状态。
完成高温保持后，重复性能和老化测试步骤，确保产品在高温条件下的可靠性。
循环测试：
高低温测试通常需要重复10次，以确保测试结果的可靠性和一致性。
测试结果判定：
如果测试过程中任意一次未能正常工作，视为测试失败，需记录异常情况并进行分析。
测试设备及参数设置：
高低温测试一般在高低温试验箱内进行，确保箱内温度均匀且稳定。根据GB2423标准，不同地区和应用场合下，低温测试的范围可设定为：-65℃、-55℃、-45℃、-40℃、-30℃、-25℃、-15℃、-10℃、-5℃、0℃、+5℃。高温测试的范围可设定为：+200℃、+175℃、+155℃、+125℃、+100℃、+85℃、+70℃、+65℃、+60℃、+55℃、+50℃、+45℃、+40℃、+35℃、+30℃。
验收流程：
测试在空载条件下进行，进行降温速率试验时，环境温度应当不高于25℃，冷动力温度应不高于30℃。
在试验箱温度可调范围内，选取最高标称温度和低标称温度，使试验箱按先低温后高温的程序运行，在工作空间中心点的温度达到测试温度并稳定2小时，在30分钟内第1分钟测试所有测试点的温度1次，共测30次。
对测得的温度数据进行修正，剔除可疑数据，计算每点30次测得值的平均温度，计算温度梯度、温度波动度、温度偏差。
高低温试验箱控制仪表的设定值与中心测试值之差应满足容许偏差要求。
