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奥林巴斯CIX100技术清洁度检测系统
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奥林巴斯CIX100技术清洁度检测系统:让您的技术清洁度检测更简便
组件与零部件的清洁对于生产工艺十分重要。对于开发、制造、批量生产以及成品质量控制的所有流程,满足对常见微观尺寸污染物和异物颗粒的计数、分析和分类的高标准要求是非常重要的。由于颗粒污染物对于零部件的使用寿命存在直接影响,国际和国家指令对于确定重要机械部件颗粒物污染的方法和存档要求均有表述。此前,使用残留颗粒物的质量来描述残留物特征。当前使用的标准对诸如颗粒物数量、颗粒物尺寸分布以及颗粒物特征等污染属性提出了更详细的信息要求。
奥林巴斯CIX100清洁度检测系统专为满足现代工业及国家和国际标准的清洁度要求而特别设计。
组件及零部件的技术清洁度非常重要,特别是在汽车和航空航天行业。
清洁度检测的标准步骤:准备和检测
(01:提取, 02:过滤, 03:称重, 04:检验, 05:复审, 06:结果)
简单,可靠
硬件与软件无缝集成的耐用型高效率系统能够产出可靠、精确的数据。
l实现真正整体解决方案功能性的简单配置
l通过稳定不变的系统配置实现精确的可重复性和*佳安全性
l**的光学性能和可再现成像条件
l通过可再定位和集成校准装置确保成熟可靠的耐久性
l确保高性能的全系统集成
实现*高效率的直观引导
使用方便的专用工作流可大大减少用户操作并确保数据可靠性-无关操作员的经验水平。
l分布操作指导可提高生产率,缩短检测和处理时间
l用户权限管理可对功能作出限制,通过限制功能避免操作员处理失误
l触摸屏支持操作员高效操作处理
l一键报告功能可直接进行数据存档
l通过检测结果自动存储和进行数据分享管理
快速实时分析
创新的一体式扫描解决方案让完成扫描的速度是传统调节检偏镜式检测系统的两倍。实时显示颗粒物的计数和筛选过程,并且配有便于修改检测数据的**易用型工具。
l缩略图像有助于评估过滤器覆盖情况、颗粒物类型情况或者*劣颗粒物
l自动实时处理和分类2.5微米至42毫米污染物颗粒
l通过**的一体式扫描技术一次扫描完成反光和非放光物体的探测提高生产率
l分析和检测结果实时显示,实现*短反应时间
l支持兼容国际标准的检测结果
高效率的数据评估
功能**且使用方便的工具支持检测数据修改。支持所有国际标准确保*高灵活性。以节省时间的方式清晰展示所有相关检测结果。
l图像和数据布局清晰鲜明,提高数据审核效率
l各种颗粒物视图的可视化,便于快速识别
l颗粒物位置与缩略图与其尺寸图像链接的可靠保证
l便于对检测数据进行重新分类、审核修改以及重新计算
l通过整体清洁度代码、颗粒物和分类表的实时显示缩短反应时间
l通过在一个视图内显示全部检测数据集实现全面控制
报告创建
一键报告功能可满足国际标准规定的要求及原则。
l基于兼容模板实现全面直观的专业文档
l通过客户可修改的模板实现的智能可变性
l支持各种输出格式,实现*高灵活性
l通过直接文件分享选项功能进行信息交流提高效率且节省时间
l便于检测结果长期评判的丰富数据存储方案
硬件
显微镜 | OLYMPUS CIX100 | 电动对焦 | 3轴操纵杆控制的同轴自动细调焦 对焦行程 25毫米 微调行程 100微米/周 载物台托架*大高度:40毫米 对焦速度 200微米/秒 可启用软件自动对焦 可定制多点聚焦图 |
照明器 | 内置LED照明 可同时实现反光和非反光颗粒物探测的照明机制 光强度由工厂预设 | ||
成像设备 | 彩色CMOS USB 3.0相机 | ||
样品高度 | ・样品受限于安装在所附滤膜托架上的过滤膜(直径47毫米) | ||
物镜转换器 | 电动型 | 电动物镜转换器 | 6孔电动物镜转换器,已经安装3个UIS2物镜 PLAPON 1.25X,用于预览 MPLFLN 5X,用于观察大于10微米的颗粒物 MPLFLN 10X,用于观察大于2.5微米的颗粒物 选配:选配MPLFLN 20X,用于高度测量。 |
软件控制 | 图像放大倍率和像素与尺寸之间的关系均可随时掌握。 | ||
载物台 | 电动载物台X,Y | 电动载物台X,Y | 步进电机控制运动 *大范围:130 x 79毫米 *大速度 240毫米/秒(4毫米滚珠螺距) 可重复性 < 1微米 分辨率 0.01微米 使用3轴操纵杆控制 |
软件控制 | 扫描速度与所使用的倍率有关,10X时保证扫描速度少于10分钟 载物台对齐由工厂在装配时完成 | ||
样品托架 | 样品托架 | 样品托架专为在安装过程中避免发生意外碰撞转动而特别设计 过滤膜通过样品托架进行机械式展平 固定上盖时无需使用工具 样品托架始终使用载物台上的插槽1 | |
颗粒物标准片(PSD) | 用于验证系统测量的参考样品 在检验系统控制CIX相应功能的内置功能中使用的样品 颗粒物标准片(PSD)始终使用载物台上的插槽2 | ||
载物台插件 | 2个载物台插槽 | 载物台插槽专门用于样品托架和颗粒物标准片(PSD)的正确定位 | |
控制器 | 工作站 | 高性能预安装式工作站 | HP Z440, Windows 10-64位专业版(英文版) 16 GB RAM, 256 GB SSD和4 TB数据存储空间 2GB视频适配器 安装Microsoft Office 2016 (英文版) 具备联网功能,英文全键盘,1000 dpi光学鼠标 |
扩展插件 | 电动控制器, RS232 串口和USB 3.0 | ||
语言选择 | 操作系统和Microsoft Office默认语言可由用户更改 | ||
触摸屏 | 23寸触摸屏 | 专为CIX软件优化的1920x1080分辨率 | |
功耗 | 额定值 | AC适配器(2), 控制器和显微镜镜架(需要4个插头) | |
功耗 | 控制器:700瓦; 显示器:56瓦; 显微镜:5.8 瓦; 控制盒 7.4瓦 合计:769.2瓦 | ||
图纸 | 尺寸 (长 x 宽 x 高) | 约1300毫米 x 800毫米 x 510毫米 | |
重量 | 44公斤 |
系统环境要求
常规使用 | 温度 | 10 - 35 °C |
湿度 | 30 - 80 % | |
用于安全 | 环境 | 室内使用 |
温度 | 5 - 35 °C | |
湿度 | *大80%(可达31 °C)(无冷凝) 温度高于31 °C时可工作的湿度值呈线性下降。 34 °C (70 %)至37 °C (60 %)至40 °C (50 %) | |
海拔高度 | *高2000米 | |
水平度 | *大± 2° | |
电源及电压稳定性 | ±10 % | |
污染等级 | 2 | |
总电压 | II |
软件
软件 | CIX-ASW-V1.1 |
技术清洁度检测的专用工作流软件 | |
语言 | GUI :英语、法语、德语、西班牙语、日语、中文简体、以及韩语 |
在线帮助:英语、法语、德语、西班牙语、日语、中文简体、以及韩语 | |
许可证管理 | 软件许可证通过许可证卡激活(安装时已经激活) |
用户管理 | 系统可连接到网络进行域管理 |
实时图像 | 以彩色模式显示 |
窗口适应方法 | |
实时探测 | |
硬件控制 | XY电动载物台 |
电动物镜转换器:仅可使用软件选择 | |
电动对焦 | |
光线控制:光强度由软件进行自动控制 | |
检查系统 | 系统验证 |
技术清洁度标准 | 可支持的标准:ISO 11218:1993; ISO 14952; ISO 16232-10; ISO 21018; ISO4406:1999; ISO4407:1991; ISO12345:2013; NAS 1638-01; NF E48-651:1986; NF E48-655:1989; SAE AS4059E |
全面符合VDA19:2016推荐要求 | |
颗粒物识别:颗粒物可通过颗粒物类型进行分类(纤维、反光、反光纤维、或其他) | |
定制标准:用户定义的标准可轻松确定 | |
检测配置:系统允许加载、定义、复制、重命名、删除和保存检验标准 | |
颗粒物平铺视图 | 以平铺视图显示检测到的颗粒物,提升导航效果 |
存储完整薄膜 | 完整滤膜图片可被存储,并可使用不同条件进行重新处理 |
颗粒物编辑 | 在修改过程中可对颗粒物进行编辑功能包括: |
动态报告 | 使用Microsoft Word 2016模板可生成全面可定制的专业分析报告 |
选配解决方案CIX-S-HM
高度测量 | 选定颗粒物的自动或手动高度测量 | - 选配软件解决方案可对所选颗粒物从上到下进行自动对焦。颗粒物高度由此通过Z坐标*大和*小差获得。 |
环境法规
欧洲 | 低压指令 2014/35/EU |
EMC指令 2014/30/EU | |
RoHS指令 2011/65/EU | |
REACH法规,编号1907/2006 | |
包装及包装废弃物指令94/62/EC | |
WEEE指令 2012/19/EU | |
机械指令2006/42/EC | |
美国 | UL 61010-1:2010第3版 |
FCC 47 CFR第15部分 B子部分 | |
加拿大 | CAN/CSA-C22.2 (No. 61010-1-12) |
澳大利亚 | 1992无线电通信法案,1997电信法案 |
节能条例 AS/NZS 4665-2005 | |
日本 | 电气设备及材料安全法 (PSE) |
韩国 | 电气设备安全控制法案 |
节能标签及标准条例 | |
EMC和无线电通信条例(公告2913-5) | |
中国 | 中国RoHS |
中国PL法 | |
手册条例 |