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TSI 3936 3936 扫描电迁移率粒径分布谱仪
- 型号
- TSI 3936
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详细信息
产品详情TSI 的 3936 扫描电迁移率粒径分布谱仪是一种高分辨率纳米粒子粒径分析仪，长期以来一直被誉为是进行包括纳米研发在内的纳米应用纳米粒径表征的研究人员之选择。 TSI 的 SMPS™ 粒径谱仪广泛用作检测空气悬浮粒子粒径分布的标准方法。这些粒径谱仪也经常用于对液体中悬浮的粒子进行精确的纳米粒径检测。.美国国家标准与技术研究所 (NIST) 采用 TSI DMA 对液体中悬浮的 60nm 和 100nm 标准参考物质进行分粒（聚苯乙烯乳胶球或 PSL 球）。 SMPS™ 粒径谱仪粒径检测技术是一种谨慎的技术，它可直接检测粒子浓度，而无需假定粒子尺寸分布形状。这种方法独立于粒子或流体的折射率，具有高度的尺寸精度和检测可重复性。TSI 3936 扫描电迁移率粒径分布谱仪 (SMPS) 深受科研人员的信赖，已提供了三十多年的高质量数据。 特点和优势
应用范围
所含项
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