(LQS）两探电阻率测试仪(测硅芯) 型号:CN61M/KDY-2库号：M403918 (LQS）两探电阻率测试仪(测硅芯) 型号:CN61M/KDY-2库号：M403918 (LQS）两探电阻率测试仪(测硅芯) 型号:CN61M/KDY-2库号：M403918

两探电阻率测试仪(测硅芯) 型号:CN61M/KDY-2

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CN61M/KDY-2型两探电阻率测试仪（以下简称两探仪）是按照我国标准GB/T1551-1995及美国材料与试验协会（ASTM）的材料验收检测方法“两探法”设计。它适合于测量横截面面积均匀的圆型，方型或矩形单晶锭(如硅芯、检磷、硼棒、区熔锗锭等)的电阻率，测样长度与截面大尺寸之比应不小于3：1。由于两探法的测量电流是从长棒两端进出，远离电压测量探，因此电流流过金属与半导体接触处产生的许多副效应（如珀尔帖效应、塞贝克效应、少子注入效应等），对测量的影响较小，测量结果为横截面的平均电阻率，两探法的测量精度一般优于四探法。
整套仪器有如下特点
1、配有双数字表：一块数字表在测量显示电压的同时，另一块数字表（以万分之几的精度）适时监测过程中的电流变化，使操作更方便，测量更精确。
数字电压表量程：0—199.99mV 灵敏度：10μV 输入阻抗：1000ΜΩ
基本误差±(0.04-0.05%读数+0.01%满度)
2、可测电阻率范围：0.001—10000Ω·cm。
3、测量电流由高度稳定（万分之几精度）的恒流源提供，不受气候条件的影响。
电流量程分五档：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA。调节范围从0.001~100mA
4、仪器采用触点电阻更低（＜5mΩ）、使用寿命更长的转换开头及继电器（＞10万次），在绝缘电阻、电流容量方面留有更大的安系数，提高了测试仪的可靠性和使用寿命。
5、可加配HQ-710E微处理机及打印机，实现自动换向测量、求平均值，计算并打印电阻率大值、小值、大百分变化率、平均百分变化率等内容。
6、可加配电，实现数据采集、自动换向测量、求平均值，计算、存储并打印电阻率大值、小值、大百分变化率、平均百分变化率等内容。