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JW-BK 孔径分布测定仪
- 型号
- JW-BK
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主要研发：比表面，比表面积，比表面积仪，比表面测定仪，真密度仪，真密度测试仪，比表面积测试仪，比表面积测定仪，比表面及孔径分析仪，比表面积分析仪，孔径分析仪，孔径分布，孔径分布测定仪，微孔孔径分析仪，孔隙率测定仪，孔隙率分析仪，孔隙度分析仪，比表面及孔隙率测定仪，孔容测定仪，物理吸附仪等。
比表面及孔径分析仪生产厂家，请选精微高博比表面积测定仪生产厂, 精微高博比表面积测定仪科技公司，拥有多年比表面积测定仪生产经验，生产的比表面积测定仪精度、重复性非常好。精微高博比表面积测定仪科技公司是当代中国*的粉体表面特性测试技术的*。十年来，精微高博的科学家革新了测定技术并设计发明了相应的物性测定仪器，使粉体及多孔材料的测定更精确、更精密、更可靠。
详细信息
孔径分布测定仪
静态容量法孔径分布测定仪JW-BK技术参数如下：
主要功能：可实行BET比表面(多点及单点)测试，Langmuir比表面测试，炭黑外
比表面测定，吸附、脱附等温曲线测定， BJH孔径分布、总孔体积和平均孔径测定；
真空系统：极限真空度6×10-2Pa
测量范围：比表面 ≥0.01M2/g 至无规定上限，孔尺寸 0.7~ 400nm ;
样品数量：可同时测定1-4个样品；
测量精度：≤± 2% ；
压力控制：高精度压力传感器，数字显示，精度 0.2%，*的充气与抽气速度自
动控制系统
运行方式：高度自动化，智能化，长时间运行可以无人看管自行测试
测试时间：多点BET法比表面平均每个样品15分钟，孔径分布测试、孔隙度测试平
均每个样品100分钟
测试气体：高纯氮气(不用氦气)，氮气消耗量极小
吸附过程：JW-BK样品不需要频繁从液氮杜瓦瓶中进出，液氮消耗极少
软件系统：在Windows平台上，提供过程控制和数据采集、处理、报告系统，多种
测试方法可自由方便选择，在计算机屏幕上，同步显示吸、脱附，测试过程、可随时查看已完成部分的测
试数据；本机软件功能强大、界面友好、兼容性高、使用方便；
：王芳 ：