CRY-32P-高温差热分析仪

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CRY-32P-高温差热分析仪

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CRY差热分析仪(DTA)可用于测定物质的热反应(吸热或放热)以及发生热反应时的温度,以进行物质的熔融、凝固、分介、化合、还原、氧化、相变、裂介、吸附、解吸、纯度、热硬化,结晶、相图制作、耐热、组分、催化等方面的研究,是从事有机、无机、高分子、矿物、建筑、石油化工、纺织、药物、炸药等方面研究的重要分析手段。

型号
CRY-1
CRY-1P
CRY-31P
差热量程
±10 ±25 ±50 ±100 ±250 ±500 ±1000uV
温度范围
室温~1100℃
升温速率
1~20℃/min
温控方式
升温、恒温、降温、循环
微机程序控制自整定PID
温度分辨率
 --
0.1℃
基线噪声
 --
不大于0.3uV
操作系统
 --
Windows
输出方式
记录仪
微机系统、打印机
586微机、激光打印机
外型尺寸(mm)
1400×430×630
1400×430×480
2000×460×500

 
型号
CRY-2
CRY-2P
CRY-32P
差热量程
±10 ±25 ±50 ±100 ±250 ±500 ±1000uV
温度范围
室温~1450℃
升温速率
1~20℃/min
温控方式
升温、恒温、降温、循环
微机程序控制自整定PID
温度分辨率
 
0.1℃
基线噪声
 
不大于0.3uV
操作系统
 
Windows
输出方式
记录仪
微机系统、打印机
586微机、激光打印机
外型尺寸
(mm)
1400×430×630
1200×430×480
2000×460×500

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