日立高新HITACHI(精工)SⅡ SFT-110型 X射线荧光镀层厚度测量仪

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SFT-110型 日立高新HITACHI(精工)SⅡ SFT-110型 X射线荧光镀层厚度测量仪

型号
SFT-110型

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电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP-OES)、原子吸收光谱仪(AAS)、紫外可见光分光光度计(UV-VIS)、能量色散型X荧光分析仪(XRF)、高效液相色谱仪(HPLC)、气相色谱仪(GC)、实验室规划和建造。

 

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详细信息

日立高新HITACHI(精工)SⅡ SFT-110型 X射线荧光镀层厚度测量仪

日立高新HITACHI(精工)(SEA1000S、SEA1000A、SEA1000AⅡ、SEA1200VX、SEA6000VX,均能升级至测定卤素,膜厚仪SFT-110、SFT9300、SFT9500),SFT-110系列产品,搭载了高性能X射线管,实现了高精度的测定。SFT-110极微小准直管和可变焦距光学系统的组合,实现了对极微小部分的测定。对有段差的样品也适用。

1.SFT-110搭载了50W高性能X射线管。
2.SFT-110搭载标准的Φ50μm微小准直管(zui小Φ15μm)。
3.容易对微小领域进行观察。SFT-110搭载了能4阶段切换的可变焦距光学系统。
4.依据照明能很容易对以前观察困难的样品进行观察。
5.FT-110搭载了防止有凹凸的样品碰撞的传感器。
6.搭载了焦点切换功能,SFT-110能够对有高度的样品的低部分进行测定。
7.SFT-110利用伺服马达精确的驱动平台。
7.SFT-110运用激光聚焦功能简单实现位置的调整。

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