锡膏测厚仪

锡膏测厚仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2022-08-03 13:42:16
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产品属性
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济南辰典电子有限公司

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产品简介

适用范围
本测厚仪采用脉冲反射超声波测量原理,适用于超声波能以一恒定速度在其内部传播,并能从其背面得到反射的各种材料厚度的测量。此仪器可对各种板材和各种加工零件作精确测量。可广泛应用于石油、化工、冶金、造船等各个领域。

详细介绍

点接触式测厚仪产品关键词:金属测厚仪、薄膜测厚仪、纸张测厚仪、涡流测厚仪、非接触测厚仪、射线测厚仪、金属薄片手持式测厚仪、实验室测厚仪、纸张厚度测试仪、塑料包装材料测厚仪涂层测厚仪可大致分为:器测量出从安装支架到物体表面的距离油漆测厚仪确保两个传感器的激光能对在同一点上

 

1.1     产品特点     

 

1:高精度测量,显示精度可达0.001mm

2:智能语音播报,配合LED背光显示,可在各种光线环境下使用。

3:支持蓝牙数据传输,可进行蓝牙打印。

4:锂电池供电,USB充电。

 

1.2    基本原理

      超声波测量厚度的原理与光波测量原理相似,当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。

 

1.3    适用范围

本测厚仪采用脉冲反射超声波测量原理,适用于超声波能以一恒定速度在其内部传播,并能从其背面得到反射的各种材料厚度的测量。此仪器可对各种板材和各种加工零件作精确测量。可广泛应用于石油、化工、冶金、造船等各个领域。

 

1.4    主要技术参数:

指标

参数

技术指标

测量范围

0.7~400mm

显示精度

0.001mm / 0.01 mm 可选

测量误差
(<10mm

±0.03mm

测量误差
10mm

±0.3%

测量周期

4/

工作频率

2M3M5M7.5M

声速范围

1000 ~ 9999 m/s

校准试块

4.0mm(钢)

基本功能

数据存储

1000组(厚度、时间、声速)

探头校准

零点校准、两点校准

声速校准

支持

测量模式

脉冲回波(P-E

语音播报

支持

调节增益

2档可调

报警功能

支持

扫描模式

支持

差值模式

支持

耦合指示

支持

电量指示

支持

实时时钟

支持

欠压指示

支持

自动关机

支持

探头规格

标配探头

5M-PT-12

可选探头

2M-ZT-123M-GT-125P-105M-PT-087.5M-PT-06

使用环境

使用温度

-10 ~ 50 °C

存放温度

-30 ~ 60 °C

显示

显示屏

FSTN LCD 点阵显示

背光

LED 背光

语言

/

菜单操作

支持

显示信息

厚度测量值、声速、时间、耦合状态、差值指示、报警指示、扫描指示、电量指示、存储指示、蓝牙指示等

通讯

电脑接口

USB接口

蓝牙

支持

软件配置

PC通讯软件

支持数据查询、数据备份等功能,可备份、修改配置信息

主机升级软件

支持主机程序升级

打印

打印机

蓝牙打印

打印纸卷直径

40mm

打印纸宽

57±0.5mm

电池

电池规格

3.7V可充电锂电池,1700mAh

使用时间

100小时(关闭背光、蓝牙)

充电电源

 5V / 1A

充电时间

 4小时

外观包装

外形尺寸

160x78x35mm

外壳材质

工程塑料

主机重量

160g

标准配置

仪器主机、5M-PT-12超声测厚探头、、普通耦合剂、充电器、通讯电缆、说明书、合格证、保修卡、装箱卡、仪器箱

 

附表1  各种材料的声速比

材料

声速(m/s

6320

4170

3600

3240

3320

5920

黄铜

4430

4700

SUS

5970

丙烯酸(类)树脂

2730

水(20°C

1480

1920

水玻璃

2350

 

X射线测厚仪X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性涡流测厚仪主要应用行业:有色金属的板带箔加工、冶金行业的板带加工.锡膏测厚仪激光测厚仪钢板测厚仪

1.设备简介
中文名称:测厚仪
英文名称:thickness Tester
产品关键词:金属测厚仪、薄膜测厚仪、纸张测厚仪、涡流测厚仪、非接触测厚仪、射线测厚仪、金属薄片手持式测厚仪、实验室测厚仪、纸张厚度测试仪、塑料包装材料测厚仪
设备用途:测厚仪(thickness gauge )是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度(如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料)。

测厚仪图册(4张)

2.涂层测厚仪的使用方法
使用涂层测厚仪时应当遵守的规定:
a基体金属特性对于磁性方法,规范片的基体金属的磁性和表面粗糙度,应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。
对于涡流方法,规范片基体金属的电性质,应当与试件基体金属的电性质相似。
b基体金属厚度检查基体金属厚度是否超过临界厚度,如果没有,可采用3.3中的某种方法进行校准。
c边缘效应不应在紧靠试件的突变处,如边缘、洞和内转角等处进行测量。
d曲率不应在试件的弯曲外表上测量。
e读数次数通常由于仪器的每次读数并不*相同,因此必需在每一测量面积内取几个读数。
覆盖层厚度的局部差别,也要求在任一给定的面积内进行多次测量,外表粗造时更应如此。
f外表清洁度丈量前,应清除表面上的任何附着物质,如尘土、油脂及腐蚀产物等,但不要除去任何覆盖层物质。

3.注意事项
测厚仪的测试方法主要有:磁性测厚法,放射测厚法,电解测厚法,涡流测厚法,超声波测厚法。
测量注意事项:
⒈在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。
⒉测量时侧头与试样表面保持垂直。
⒊测量时要注意基体金属的临界厚度,如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。
⒋测量时要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。
⒌测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场,如果会将会干扰磁性测厚法。
⒍测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量,因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。
⒎在测量时要保持压力的恒定,否则会影响测量的读数。
⒏在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触,因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。

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