高精度薄膜测厚仪可用于检测箔片、硅片

高精度薄膜测厚仪可用于检测箔片、硅片

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具体成交价以合同协议为准
2022-07-12 14:52:11
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山东德瑞克仪器有限公司

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产品简介

对环境温度波动不敏感，经济实用，适合于各种薄膜企业的工艺控制和计量检测单位或部门的检测使用。

详细介绍

薄膜测厚仪国家标准

薄膜测厚仪满足多项国家和标准

GB/T6672-2001,ISO4593,ASTMD374,ASTM D1777,GB/T451.3,GB/T6547,ISO534,ISO3034等

薄膜测厚仪产品参数

 

 

指标

参数

测量范围

0-10mm

下测量面直径

不小于5mm

上测量面曲率半径

15-50mm

测量面施加压力

0.1-0.5N

接触面积

100mm²

自动进样间距

0-1000mm

自动进样速度

0.1-99.9mm/s

型 号

数显分辨率

zui大示值误差

测量范围

DRK204A

0.1μm

±（0.4+0.04L）μm

0-10mm

DRK204B

0.01μm

±（0.1+0.01L）μm

0-10mm

DRK204C

0.001μm

±（0.03+0.003L）μm

0-10mm

薄膜测厚仪产品配置

主机一台、合格证、说明书一份

 

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