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DM2300型 X荧光元素分析仪
DM2300型 X荧光元素分析仪产品简介
专门针对RoHS/ELV/玩具/包装/首饰等中有害元素及无卤化中卤素的测量
能同时测量Cl/Cr/As/Se/Br/Cd/Sb/Ba/Hg/Pb等元素
DM2300型X荧光分析仪(或称X荧光光谱仪),仪器采用了能量色散X射线荧光分析技术,能分析从铝(原子序数13)到铀(原子序数92)的所有元素,对大多数元素分析的含量可低至1ppm高至99%,还能进行镀层厚度测量。具有分析速度快、精度高、人为误差小、操作简便、只需一次性投资、无污染等特点,故广泛应用于电子电气、建材、冶金、石油、化工、地质、矿山等各行各业。
主要技术指标
1. 分析元素种类:Cl氯、铬Cr、砷As、硒Se、溴Br、镉Cd、锑Sb、钡Ba、汞Hg、铅Pb等。
2. 有害元素及卤素含量分析范围: 5~3000ppm。
3. 系统分析时间: 300s (典型值)。
4. 分析精度:理想状态下,测量精度为2~3ppm;
一般状态下,测量相对误差为10%。
5. 检出限: ≤2 ppm。
6. X射线光管: 高压:≤50kV, 电流:≤1mA,均连续可调。
7. 准直器: Ф1mm、Ф3mm、Ф5mm、Ф7mm共4个可自动切换。
8. 系统能量分辩率: 对于MnK5.9keV的X射线,其半高宽:≤155 eV。
9. 长时间稳定性: 开机1小时后,整机8小时稳定性:峰位和峰面积相对标准偏差均小于0.1%。
10. 样品室体积: 长×宽×高:480 mm×350 mm×125mm。
11. 使用条件: 环境湿度:5~30℃,相对湿度≤80%(25℃),供电电源:220±20V,50Hz。
12. 整机功耗: ≤150W。
13. 尺寸与重量: 长×宽×高:503 mm×412 mm×478mm;重量:45Kg。
仪器特点:
1. 采用EDXRF物理分析方法,分析中不接触、不破坏样品,无需化学试剂等其他辅助材料。
2. 多元素同时快速分析,一般几分钟给出Cl氯、铬Cr、砷As、硒Se、溴Br、镉Cd、锑Sb、钡Ba、汞Hg、铅Pb等元素的ppm含量结果。
3. 采用X光管激发,光管高压的电压和电流可调,使仪器达到高的激发效率和*的计数率。。
4. 具有4个滤色片和4个准直器,可任意自动转换组合,使仪器达到*的计数率和高的峰背比,从而有*的精度和很小的检出限。
5. 采用高分辨率的PIN半导体探测器,有效避免元素的相互干扰。
6. 采用高分辨率的CCD摄像头,样品平台可移动,从而保证测量目标位置的准确。
7. 由计算机进行显示、操作和数据处理,从而使操作简便,分析快速准确。
8. 仪器集成化程度高,可靠性好,维修方便。环境适应能力强,先进稳定性好。
9. 采用内标方法及具有自主知识产权的分谱技术,在无标准样品时亦可准确分析样品。
10. 样品室体积大,能测量大件物品。
11. 价格功能比低,适合我国国情。
12. 设计对屏蔽防护*,无三废公害,射线防护安全可靠。